[发明专利]镜头校正数据的检测方法、装置、电子设备及介质

说明书

本发明公开了一种镜头校正数据的检测方法，提取所述镜头校正数据中的有效校正数据，并将所述有效校正数据划分成N块校正数据，其中，N为4的倍数；将所述N块校正数据进行分组，得到M组数据，其中，M为大于1的整数，所述M组数据中的每组数据包括多块校正数据；若每块校正数据的增减性参数均符合所述设定增减性条件，且每组数据的最大像素的坐标值符合所述设定坐标条件，以及所述最大像素值和所述最小像素值符合所述设定像素值条件，则判定所述镜头校正数据符合校正要求。本发明公开的镜头校正数据的检测方法、装置、电子设备及介质，能够有效提高对摄像头模组的校正数据的检测效率。

技术领域

本发明涉及数据处理的技术领域，特别涉及一种镜头校正数据的检测方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

现有技术中，摄像头模组通常使用影像传感芯片，但影像传感芯片受限于其物理结构，在相邻像素之间会存在相互干扰，称之为串扰，为了减少串扰，会通过软件在模组生产时进行校正和测试，得到一系列校正数据，并存储到模组的存储器件中，由于校正和效果检测均由软件来实现，而软件是封装的，导致生产摄像头模组的生产方来讲，在对摄像头模组中的校正数据进行检测时，需要拍摄一张图片，将数据应用到该图片上计算结果，运行时间较长，导致在进行摄像头模组的校正数据进行检测的效率较低。

发明内容

本发明实施例提供一种镜头校正数据的检测方法、装置、电子设备及介质，能够有效提高对摄像头模组的校正数据的检测效率。

本发明实施例第一方面提供一种镜头校正数据的检测方法，所述方法包括：

提取所述镜头校正数据中的有效校正数据，并将所述有效校正数据划分成N块校正数据，其中，N为4的倍数；

将所述N块校正数据进行分组，得到M组数据，其中，M为大于1的整数，所述M组数据中的每组数据包括多块校正数据；

判断所述N块校正数据中的每块校正数据的增减性参数是否符合设定增减性条件；

判断所述M组数据中的每组数据的最大像素的坐标值是否符合设定坐标条件；

判断所述有效校正数据的最大像素值和最小像素值是否符合设定像素值条件；

若每块校正数据的增减性参数均符合所述设定增减性条件，且每组数据的最大像素的坐标值符合所述设定坐标条件，以及所述最大像素值和所述最小像素值符合所述设定像素值条件，则判定所述镜头校正数据符合校正要求。

可选的，所述判断所述N块校正数据中的每块校正数据的增减性参数是否符合设定增减性条件，包括：

针对所述N块校正数据中的每块校正数据，根据该块校正数据中的每一行数据的平均值，获取该块校正数据的行增减参数；以及根据该块校正数据中的每列数据的平均值，获取该块校正数据的列增减参数；根据该块校正数据的行增减参数和列增减参数，获取该块校正数据的增减性参数；

判断每块校正数据的增减性参数是否符合设定增减性条件。

可选的，所述针对所述N块校正数据中的每块校正数据，根据该块校正数据中的每一行数据的平均值，获取该块校正数据的行增减参数，包括：

针对所述N块校正数据中的每块校正数据，获取该块校正数据中的每一行数据的平均值；利用该块校正数据中的中间行数据的平均值进行直线拟合，得到该块校正数据的行拟合直线，其中，该块校正数据的中间行数据为该块校正数据中去除边缘行数据之后的剩余行数据；根据该块校正数据的行拟合直线的斜率，获取该块校正数据的行增减参数。

可选的，所述针对所述N块校正数据中的每块校正数据，根据该块校正数据中的每一列数据的平均值，获取该块校正数据的列增减参数，包括：