[发明专利]镜头校正数据的检测方法、装置、电子设备及介质

权利要求书

1.一种镜头校正数据的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

提取所述镜头校正数据中的有效校正数据，并将所述有效校正数据划分成N块校正数据，其中，N为4的倍数；

将所述N块校正数据进行分组，得到M组数据，其中，M为大于1的整数，所述M组数据中的每组数据包括多块校正数据；

判断所述N块校正数据中的每块校正数据的增减性参数是否符合设定增减性条件；

判断所述M组数据中的每组数据的最大像素的坐标值是否符合设定坐标条件；

判断所述有效校正数据的最大像素值和最小像素值是否符合设定像素值条件；

若每块校正数据的增减性参数均符合所述设定增减性条件，且每组数据的最大像素的坐标值符合所述设定坐标条件，以及所述最大像素值和所述最小像素值符合所述设定像素值条件，则判定所述镜头校正数据符合校正要求。

2.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述N块校正数据中的每块校正数据的增减性参数是否符合设定增减性条件，包括：

针对所述N块校正数据中的每块校正数据，根据该块校正数据中的每一行数据的平均值，获取该块校正数据的行增减参数；以及根据该块校正数据中的每列数据的平均值，获取该块校正数据的列增减参数；根据该块校正数据的行增减参数和列增减参数，获取该块校正数据的增减性参数；

判断每块校正数据的增减性参数是否符合设定增减性条件。

3.如权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述针对所述N块校正数据中的每块校正数据，根据该块校正数据中的每一行数据的平均值，获取该块校正数据的行增减参数，包括：

针对所述N块校正数据中的每块校正数据，获取该块校正数据中的每一行数据的平均值；利用该块校正数据中的中间行数据的平均值进行直线拟合，得到该块校正数据的行拟合直线，其中，该块校正数据的中间行数据为该块校正数据中去除边缘行数据之后的剩余行数据；根据该块校正数据的行拟合直线的斜率，获取该块校正数据的行增减参数。

4.如权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述针对所述N块校正数据中的每块校正数据，根据该块校正数据中的每一列数据的平均值，获取该块校正数据的列增减参数，包括：

针对所述N块校正数据中的每块校正数据，获取该块校正数据中的每一列数据的平均值；利用该块校正数据中的中间列数据的平均值进列直线拟合，得到该块校正数据的列拟合直线，其中，该块校正数据的中间列数据为该块校正数据中去除边缘列数据之后的剩余列数据；根据该块校正数据的列拟合直线的斜率，获取该块校正数据的列增减参数。

5.如权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述判断所述M组数据中的每组数据的最大像素的坐标值是否符合设定坐标条件，包括：

针对所述M组数据中的每组数据，获取该组数据中的多块校正数据中的相邻列数据，根据该组数据中的相邻列数据中的每行数据的平均值，得到该组数据的最大像素的行坐标；获取该组数据中的多块校正数据中的相邻行数据，根据该组数据中的相邻行数据中的每列数据的平均值，得到该组数据的最大像素的列坐标；根据该组数据的最大像素的行坐标和列坐标，得到该组数据的最大像素的坐标值；

判断每组数据的最大像素的坐标值是否符合所述设定坐标条件。

6.如权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述针对所述M组数据中的每组数据，获取该组数据中的多块校正数据中的相邻列数据，根据该组数据中的相邻列数据中的每行数据的平均值，得到该组数据的最大像素的行坐标，包括：

针对所述M组数据中的每组数据，利用该组数据中的相邻列数据中的每行数据的平均值进行二次项多项式拟合，得到该组数据的行拟合曲线，根据该组数据的行拟合曲线的最大值，得到该组数据的最大像素的行坐标。