[发明专利]过零检测电路、控制方法及控制装置

说明书

本申请提供的一种过零检测电路、控制方法及控制装置，通过设置过零检测电路，能够实现对交流电源的交流电正弦波进行过零点检测，通过在检查到过零点时控制继电器执行开关动作，能够减少产生火弧或火花，从而能够保证电器产品的使用安全、延长电器的使用寿命。

技术领域

本申请涉及控制技术领域，特别地涉及一种过零检测电路、控制方法及控制装置。

背景技术

部分电器(如蒸烤箱)在使用过程中常伴随继电器的开关动作，而继电器连接交流电源，交流电源为强电，在继电器动作时可能会产生火弧或火花，影响电器的安全使用和寿命。

发明内容

针对上述问题，本申请提供一种过零检测电路、控制方法及控制装置，能够保证整个电器的使用安全、延长电器的使用寿命。

本申请提供了一种过零检测电路，包括：第一三极管、第二三极管、第一光耦和第二光耦，所述第一三极管的基极用于接收控制信号，所述第一三极管的集电极接地，所述第一三极管的发射极与所述第一光耦的发光二极管的负极连接，所述第一光耦的发光二极管的正极接芯片电源，所述第一光耦的双向可控硅的第一端用于连接交流电源的火线，所述述第一光耦的双向可控硅的第二端与第二光耦的发光二极管的正极连接，所述第二光耦的发光二极管的负极用于接所述交流电源的零线，所述第二光耦的光电三极管的集电极与所述芯片电源、过零检测接口和所述第二三极管的集电极连接，所述第二光耦的光电三极管的集电极接所述第二三极管的基极，所述第二三极管的发射极接地。

在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：二极管，所述二极管的正极与所述交流电源的零线连接，所述二极管的负极与所述第二光耦的发光二极管的正极连接。

在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：第一电阻、第二电阻，其中，所述零线通过所述第二电阻与第二光耦的发光二极管的负极连接，所述火线通过第一电阻与所述第一光耦的双向可控硅的第一端连接。

在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：第三电阻、第四电阻，其中，所述第一光耦的发光二极管的负极通过所述第三电阻与第一三极管的发射极连接，所述第二光耦的光电三极管的发射极通过第四电阻连接第二三极管的集电极。

在一些实施例中，所述过零检测电路还包括：第五电阻和第六电阻，所述控制信号通过所述第六电阻传输给第一三极管的基极，所述第二光耦的光电三极管的集电极通过第五电阻连接所述第二三极管的基极。

本申请实施例提供一种控制方法，应用于所述的过零检测电路，所述方法包括：

在确定需要控制电器的继电器执行开关动作的情况下，输出预设时长的高电平的控制信号至所述过零检测电路，其中，预设时长对应至少一个交流电的正弦波周期；

获取所述过零检测接口的检查信号；

在所述检查信号表征由低电平转变为高电平的情况下，控制所述继电器执行开关动作。

在一些实施例中，所述方法还包括：

在确定不需要控制继电器执行开关动作的情况下，持续输出低电平信号的控制信号至所述过零检测电路。

本申请实施例提供一种控制装置，应用于所述的过零检测电路，包括：

输出模块，用于在确定需要控制电器的继电器执行开关动作的情况下，输出预设时长的高电平的控制信号至所述过零检测电路，其中，预设时长对应至少一个交流电正弦波周期；

获取模块，用于获取所述过零检测接口的检查信号；

控制模块，用于在所述检查信号表征所述过零检测接口的电平由低电平转变为高电平的情况下，控制所述继电器执行开关动作。

本申请实施例提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，该计算机程序被所述处理器执行时，执行上述所述控制方法。