[发明专利]超声波粉碎方法、装置、设备及可读介质

权利要求书

1.一种超声波粉碎方法，其特征在于，包括：

检测目标对象的第一尺寸参数和第一位置参数；

利用所述第一尺寸参数和所述第一位置参数确定超声波的第一能量参数；

向所述目标对象发送与所述第一能量参数对应的第一超声波，以粉碎所述目标对象。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测目标对象的第一尺寸参数和第一位置参数包括：

获取各个所述目标对象的粒径以及任一目标对象与能量发出点所在的平面之间的最短距离值；

确定多个所述粒径的第一平均值，并将所述第一平均值确定为所述第一尺寸参数，以及将所述最短距离值确定为所述第一位置参数。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述向所述目标对象发送与所述第一能量参数对应的第一超声波包括：

从所述第一能量参数中提取能量频率和能量振幅；

向所述目标对象发射与所述能量频率和所述能量振幅对应的所述第一超声波。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在向所述目标对象发送与所述第一能量参数对应的第一超声波之后，所述方法还包括：

在检测到所述目标对象的所述目标粒径符合预设条件的情况下，停止所述第一超声波的发射；

在检测到所述目标对象的所述目标粒径不符合预设条件的情况下，继续利用超声波对所述目标对象进行循环粉碎操作，直至检测到所述目标对象的所述目标粒径符合所述预设条件。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，任一所述循环粉碎操作包括：

确定所述目标对象的第二尺寸参数和第二位置参数；

利用所述第二尺寸参数和所述第二位置参数确定第二能量参数；

向所述目标对象发送与所述第二能量参数对应的第二超声波，以粉碎所述目标对象。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括按照以下方式确定所述目标对象的所述目标粒径是否符合所述预设条件：

获取各个所述目标对象的粒径，并将多个所述粒径中数值最大的所述粒径确定为所述目标粒径；

将所述目标粒径与预设粒径进行对比；

在所述目标粒径大于所述预设粒径的情况下，确定为所述目标粒径不符合所述预设条件，在所述目标粒径小于等于所述预设粒径的情况下，确定为所述目标粒径符合所述预设条件。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，利用所述第一尺寸参数和所述第一位置参数确定超声波的第一能量参数之前，所述方法还包括：

选取多个相同的样本对象，并确定所述样本对象的第三尺寸参数和第三位置参数；

向各个所述样本对象发送第三超声波，其中，每个所述样本对象接收到的所述第三超声波的能量参数不同；

检测粉碎后的所述样本对象的粒径，并获取所述粒径最小的所述样本对象接收到的所述第三超声波的第三能量参数；

将所述第三能量参数确定为与所述第三尺寸参数和所述第三位置参数匹配的目标能量参数，并将所述第三尺寸参数、所述第三位置参数以及所述目标能量参数映射存储至预设参数库。

8.一种超声波粉碎装置，其特征在于，包括：

参数检测模块，用于检测目标对象的第一尺寸参数和第一位置参数；

参数确定模块，用于利用所述第一尺寸参数和所述第一位置参数确定超声波的第一能量参数；

粉碎模块，用于向所述目标对象发送与所述第一能量参数对应的第一超声波，以粉碎所述目标对象。