[发明专利]一种纳米带热阻接触方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211231981.1 申请日: 2022-10-10
公开(公告)号: CN115656254A 公开(公告)日: 2023-01-31
发明(设计)人: 殷浩;赵古田;杨决宽 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01N25/20 分类号: G01N25/20;G01N21/84
代理公司: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 代理人: 申星宇
地址: 211100 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 纳米 带热阻 接触 方法 装置
【说明书】:

本申请公开了一种纳米带热阻接触方法及装置,属于固体材料热物性参数测试技术领域。该装置主要通过电场驱动将毛细管中的液体喷射到热源、热沉上,液体挥发过程中依靠表面张力将样品贴紧在热源、热沉上,从而降低样品同热源、热沉之间的接触热阻,实现非接触润湿,避免引起热源、热沉晃动,样品损伤率大幅降低,进而实现在保证不损伤样品的前提下降低样品同热源、热沉之间的接触热阻。

技术领域

本申请涉及固体材料热物性参数测试技术领域,特别涉及一种纳米带热阻接触方法及装置。

背景技术

在一维纳米结构导热系数的测试中,应用最广的测试技术是稳态热桥法。在稳态热桥法中,热源、热沉是悬空的,面积通常在400 µm2以下。被测样品搭接在热源、热沉上,测量得到的表观热阻包括样品的本征热阻以及样品与热源、热沉间的接触热阻。为了保证表观热阻能够尽可能接近样品的本征热阻,要求接触热阻远小于样品的本征热阻。

为了降低接触热阻,通常采用电子束诱导沉积技术在样品与热源、热沉接触处沉积金属。实验表明,沉积金属确实可以有效降低接触热阻。然而,电子束诱导沉积成本非常高,并容易造成样品的污染。特别地,聚合物纳米结构在经过电子束辐照后,其导热性能会有大幅改变。因此电子束诱导沉积不能用来降低聚合物纳米结构和热源、热沉间的接触热阻。申请号为201911415504.9专利公布了一种液体辅助降低纳米带接触热阻的方法,该方法利用注射器压缩空气将毛细管中的液体挤出至热源、热沉上,热源、热沉上的液体在挥发过程中利用表面力将纳米带贴紧在热源、热沉上。该方法成本低廉,不会改变聚合物的性质。

然而,在该方法中,毛细管出液口必须和悬空的热源、热沉接触,在液体挤出过程中经常会引起热源、热沉晃动导致样品被损坏的问题。

发明内容

本发明提供了一种纳米带热阻接触方法及装置。用于解决在液体挤出过程中经常会引起热源、热沉晃动导致样品被损坏的问题。所述技术方案如下:

根据本申请的一个方面,提供了一种纳米带热阻接触装置,所述装置包括:热源1、热沉2、纳米带3、毛细管4、湿润用液体5、微操纵仪6和电极7;

所述热源1和热沉2并行构成悬空微器件;所述纳米带3的两端分别搭接在所述热源1和热沉2上;所述湿润用液体5用于湿润所述热源1和热沉2;

所述毛细管4固定于所述微操纵仪6上;所述毛细管4内注入有所述湿润用液体5并插入所述电极7,所述电极7用于导电;

所述电极7和所述热源1上施加电势差8条件下,所述毛细管4中的湿润用液体5喷射到所述热源1表面形成液膜9;去除所述电势差8条件下,所述液膜9挥发,所述纳米带3紧贴于所述热源1,所述纳米带3同所述热源1之间的接触热阻降低;

所述微操纵仪6用于操作所述纳米带3位置和用于操控所述毛细管4的出液口移至所述热源1的侧上方。

在一个可选实施例中,所述微操纵仪6的操作在光学显微镜下进行。

在一个可选实施例中,所述毛细管4的一端尖头设计用作出液口;所述毛细管4的另一端作为液体注入口。

在一个可选实施例中,所述毛细管4尖头处内径为1微米;所述毛细管4的另一端处内径为0.5毫米。

在一个可选实施例中,所述毛细管4与所述待润湿的热源1和热沉2不接触。

在一个可选实施例中,所述电极7为与所述润湿用液体5不发生反应的导电材料。

在一个可选实施例中,所述电势差8为1.5kV。

根据本申请的另一方面,提供了一种纳米带热阻接触方法,所述方法用于上述方面所述的纳米带热阻接触装置,所述方法包括:

第一步,在光学显微镜下,所述微操纵仪6将所述纳米带3搭接在所述热源1和热沉2上;

第二步,向所述毛细管4中注入用于润湿所述热源1和热沉2的湿润用液体5;

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