[发明专利]一种光模块测试系统及光模块测试板

权利要求书

1.一种光模块测试系统，其特征在于，包括：设置于测试板上的光模块、供电接头、电压输出单元、高速信号接头和通信接口；

其中，所述供电接头用于将测试板外部的电源连接到所述电压输出单元来为所述光模块供电；

所述电压输出单元连接所述光模块连接器，通过所述光模块连接器为所述光模块提供稳定的直流电压；

所述通信接口连接所述电压输出单元，用于来自所述测试板外部的电压控制信号提供至所述电压输出单元；

响应于所述电压控制信号，所述电压输出单元调节提供给所述光模块连接器的设定电压；

所述高速信号接头连接所述光模块连接器，用于将测试板外部的发射端测试信号提供给所述光模块，和/或将所述光模块产生的接收端信号提供给所述测试板外部。

2.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，还包括：

上位机，连接所述通信接口，用于提供所述测试板外部的电压控制信号；

直流稳压电源，连接所述供电接头，用于提供为所述电压输出单元提供稳定的直流电压；

误码仪，连接所述高速信号接头，用于提供所述测试信号。

3.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，所述电压输出单元包括：

DC-DC芯片，用于根据所述电压控制信号输出所述设定电压至所述光模块；

MCU处理器，分别与所述DC-DC芯片和所述通信接口连接，用于根据所述电压控制信号自动调节所述DC-DC芯片输出的所述设定电压；

电压采样电路，用于采集提供给所述光模块的所述设定电压并反馈至所述MCU处理器；

电流采样电路，用于采集所述光模块的工作电流并反馈至所述MCU处理器。

4.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，还包括：

示波器，连接至所述光模块，用于测试所述光模块发射端眼图性能；

光谱仪，连接至所述光模块，用于测试所述光模块发射光谱性能。

5.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，还包括：

冷热冲击仪，用于提供进行高低温测试的高低温空气；

保温盒，固定设置于测试板上并容置所述光模块，所述保温盒上设置有通气孔和光纤出口，所述通气孔用于将所述高低温空气通入所述保温盒内部，所述光纤出口用于伸出光纤。

6.根据权利要求4所述的光模块测试系统，其特征在于，所述保温盒一侧设置为可沿着转轴旋转的盖子，在所述盖子处于打开状态时所述光模块可与所述测试板进行热插拔。

7.根据权利要求5所述的光模块测试系统，其特征在于，所述保温盒内部具有挡板，使得所述光模块插接至所述测试板上时所述光模块的测试区域位于所述挡板与所述保温盒形成的气室内。

8.根据权利要求1所述的光模块测试系统，其特征在于，还包括：

金手指连接器，连通所述测试板上的所述高速信号接头和所述电压输出单元，用于插接所述光模块，以将所述测试信号和所述电压控制信号输入所述光模块。

9.根据权利要求5-7中任意一项所述的光模块测试系统，其特征在于，所述保温盒设置有若干个独立空间，所述独立空间容置一个所述光模块、且所述保温盒设置有与所述独立空间对应的若干个所述通气孔，所述冷热冲击仪连接一分多转接口，并由所述一分多转接口连接至若干个所述通气孔。

10.一种光模块测试板，其特征在于，包括：光模块连接器、供电接头、电压输出单元、高速信号接头和通信接口；

其中，所述光模块连接器用于将被测试的光模块连接到所述测试板；

所述供电接头连接所述电压输出单元，用于将测试板外部的电源连接到所述电压输出单元来为所述光模块供电；

所述电压输出单元连接所述光模块连接器，通过所述光模块连接器为所述光模块提供稳定的直流电压；

所述通信接口连接所述电压输出单元，用于来自所述测试板外部的电压控制信号提供至所述电压输出单元；

响应于所述电压控制信号，所述电压输出单元调节提供给所述光模块连接器的直流电压；

所述高速信号接头连接所述光模块连接器，用于将测试板外部的发射端测试信号提供给所述光模块，和/或将所述光模块产生的接收端信号提供给所述测试板外部。