[发明专利]发光二极管及发光装置在审

专利信息
申请号: 202211186456.2 申请日: 2022-09-28
公开(公告)号: CN115425125A 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 李家安;毛洪涛;李政鸿;林兓兓 申请(专利权)人: 安徽三安光电有限公司
主分类号: H01L33/04 分类号: H01L33/04;H01L33/06;H01L33/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 241000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 发光 装置
【说明书】:

发明属于半导体技术领域,尤其涉及发光二极管及发光装置,包括:衬底,以及依次位于所述衬底上的第一半导体层、发光层、最后势垒层、电子阻挡层和第二半导体层;所述发光层包括n个周期的量子阱结构,所述量子阱结构包括一层量子垒层和一层量子阱层;所述最后势垒层厚度为发光层厚度的0.2倍~0.7倍。本发明可以有效提高电子和空穴在发光层里的分布均匀性,减少无效辐射复合的概率,提高整体的发光效率。

技术领域

本发明属于半导体技术领域,尤其涉及发光二极管及发光装置。

背景技术

发光二极管(英文:Light Emitting Diode,简称:LED)是一种常用的发光器件,通过电子与空穴复合释放能量发光,可以高效地将电能转化为光能。发光二极管通常采用不同的半导体材料和结构,实现从紫外到红外的全色范围。

随着LED产业的持续发展,近年来对于低电流密度产品的需求与日俱增,然而,现有的结构主要适配于中大电流密度的产品,其应用于低电流密度产品上的发光效率偏低,存在电子与空穴在量子阱层中分布不均的缺陷,降低了电子-空穴的复合效率,导致有效的辐射符合效率偏低,进而影响发光效率。

说明内容

为了解决上述的技术问题,本发明的目的在于提供一种发光二极管及发光装置,以实现电子-空穴的均匀分布,改善发光层质量,提升辐射复合效率。

根据本发明的第一方面,本发明提供了一种发光二极管,其特征在于,包括:衬底,以及依次位于所述衬底上的第一半导体层、发光层、最后势垒层、电子阻挡层和第二半导体层;所述发光层包括n个周期的量子阱结构,所述量子阱结构包括一层量子阱层和一层量子垒层;所述最后势垒层厚度为发光层厚度的0.2倍~0.7倍。

优选的,所述最后势垒层的厚度范围为17nm~65nm。

优选的,所述发光层的厚度范围为50nm~210nm。

优选的,单个量子阱结构的厚度为10nm~17nm。

优选的,所述最后势垒层厚度不小于单个量子阱结构厚度。

优选的,所述最后势垒层厚度为单个量子阱结构厚度的2倍及以上。

优选的,所述量子垒层包括Alx1Iny1Ga1-x1-y1N层,量子阱层的材料包括Alx2Iny2Ga1-x2-y2N,其中0≤x2<x1≤1,0≤y1<y2≤1。

优选的,所述量子阱层为InGaN层,所述量子垒层为GaN层或AlGaN层。

优选的,所述发光层的周期数n为5~12。

优选的,所述最后势垒层的禁带宽度大于发光层的禁带宽度。

优选的,所述最后势垒层为P型掺杂或者不掺杂。

优选的,所述最后势垒层的P型掺杂浓度低于5E19 atoms/cm3

优选的,所述最后势垒层为超晶格结构。

优选的,所述最后势垒层包括含In的材料层,且最后势垒层的In含量不高于10%。

优选的,所述超晶格结构为AlGaN/ InAlGaN超晶格、GaN/AlGaN超晶格、GaN/InAlGaN超晶格、InGaN/AlGaN超晶格、InGaN/ InAlGaN超晶格中的至少一种。

优选的,所述发光二极管还包括应力释放层,所述应力释放层位于第一半导体层和发光层之间。

优选的,所述发光二极管还包括第一电极和第二电极,所述第一电极与所述第一半导体层电性连接,所述第二电极与所述第二半导体层电性连接。

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