[发明专利]一种半金属化槽孔结构及其制作方法在审
| 申请号: | 202211178795.6 | 申请日: | 2022-09-27 |
| 公开(公告)号: | CN115529730A | 公开(公告)日: | 2022-12-27 |
| 发明(设计)人: | 范红;张震;罗猛;贺梓修;贺南骏 | 申请(专利权)人: | 奥士康科技股份有限公司 |
| 主分类号: | H05K3/00 | 分类号: | H05K3/00;H05K3/42;H05K3/46 |
| 代理公司: | 长沙明新专利代理事务所(普通合伙) 43222 | 代理人: | 徐新 |
| 地址: | 413000 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 金属化 结构 及其 制作方法 | ||
本发明公开了一种半金属化槽孔结构及其制作方法,本发明通过在高多层板的特定位置进行槽孔加工,然后对槽孔金属化后再进行控深锣,控深锣必须钻穿可钻穿层,不伤及不可钻穿层,然后通过沉铜电镀,实现直通槽孔和阶梯槽孔同时金属化,在金属化的T型槽孔的大槽孔面进行二次阶梯锣,实现二次锣非金属化槽,二次阶梯锣的尺寸大小较器件长、宽大0.2mm以下;深度与器件等高,契合元器件安装实现高导热,半金属化槽孔与内层电地层导通的双阶梯T型槽孔类PCB产品。
技术领域:
本发明属于PCB板制作领域,尤其涉及一种半金属化槽孔结构及其制作方法。
背景技术:
为了防止电磁辐射和干扰噪音,PCB板制作时会进行埋铜块操作,例如发明专利CN113660784 A公开一种PCB内置导电胶的加工方法及检验方法,而这种方式需要通过埋置导电胶的方式与T型元器件紧固黏贴,以使得T型元器件与PCB板的铜面导通,但是导电胶材料一般采用银、铜浆和树脂混合物制作而成,不仅价格昂贵且需要低温保存,加工后的膨胀系数与内层铜差异导致耐热性差,还存在粘度差、定位对位难操作等特点导致局部尺寸精度控制差。这导致T型元器件在后期统一出现脱胶,接触不良等问题
此外,埋置导电胶技术不仅对材料要求高,对加工设计有很大影响。而且也需要机械控深钻孔,受到控深设备精度能力,一般为±50um的能力,必须要保证不可钻穿层到临层的介质层(导电胶层)厚度≥控深深度*2倍以上,受到导电油墨(胶)半固态加工难度大,高度越高可能需要多次叠加。实际埋导电胶效率低下且成本高。
因此需要对现有的工艺进行改进。
发明内容:
本发明的目的在于提供一种半金属化槽孔结构及其制作方法,本发明通过采用传统的印制电路板加工技术,经过优化设计和工艺流程方法实现高精度、高可靠的阶梯半金属化槽孔制作。
为解决上述问题,本发明的技术方案是:
一种半金属化槽孔结构的制作方法,包括以下步骤:
步骤一、依次进行开料-内层线路-压合-钻通孔;其中,压合后,两个含导体线路的芯板通过半固化片120压合粘结在一起;
步骤二、锣PTH槽;
步骤三、对PTH槽进行第一次控深锣,形成一次控深锣槽孔,一次控深锣槽孔与PTH槽的槽孔同心设置且一次控深锣槽孔直径大于PTH槽的槽孔的直径,形成T形槽孔;一次控深锣槽孔的深度达到半固化片120的中部;
步骤四、PTH电镀;
步骤五、依次进行外层线路-阻焊-字符;
步骤六、二次控深锣,锣除第一次控深锣的锣孔侧壁上部的金属层,形成非导通孔;
步骤七、依次进行表面处理-锣板-电测-FQC-FQA,得到含有半金属化槽孔结构的PCB板。
进一步的改进,两个含导体线路分别为第一含导体线路的芯板111和第二含导体线路的芯板112;第一含导体线路的芯板111和第二含导体线路的芯板112通过半固化片120压合粘结在一起,且第一含导体线路的芯板111处于第二含导体线路的芯板112上方,其中,设第一含导体线路的芯板111顶部的铜层为L1层,底部的铜层为L2层,第二含导体线路的芯板112顶部的铜层为L3层,底部的铜层为L4层,步骤三中,第一次控深锣时穿过L2层并不可钻穿层L3层。
进一步的改进,所述步骤三中,进行第一次控深锣时,形成平地锣槽,槽刀底部锯齿状深度>25um,保证锣底粗糙度Rz≥25um。
进一步的改进,所述步骤六中,二次控深锣时,控深锣深度处于L1层-L2层之间,且若L1层-L2层之间的厚度为h1mm,则控深锣深度的深度为h1-0.1mm。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥士康科技股份有限公司,未经奥士康科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211178795.6/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种信号长时间积累的检测方法
- 下一篇:烟雾的检测方法、装置及系统、存储介质





