[发明专利]数据填充方法、装置、计算机设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202211061920.5 申请日: 2022-08-31
公开(公告)号: CN115392837A 公开(公告)日: 2022-11-25
发明(设计)人: 何文彦;刘世洋;程毅;张波;贾宏伟;秦屹 申请(专利权)人: 森思泰克河北科技有限公司
主分类号: G06Q10/08 分类号: G06Q10/08;G06T7/70
代理公司: 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 代理人: 朱五云
地址: 050200 河北省石家庄市鹿泉区*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 数据 填充 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种数据填充方法,其特征在于,所述方法包括:

在待测场景对应的二维栅格地图中,根据所述二维栅格地图对应的第一栅格地图数据,识别出料堆区域;其中,所述待测场景为包含料堆的场景,所述第一栅格地图数据包括所述二维栅格地图中每个二维栅格对应的高度值;

根据所述料堆区域内每个二维栅格对应的高度值,在所述料堆区域中识别出满足预设斜坡区域条件的料堆斜坡区域;

根据所述每个二维栅格对应的高度值,在所述料堆斜坡区域中识别出料堆孤立栅格;

针对所述料堆斜坡区域中的第一缺漏栅格,根据所述料堆孤立栅格对应的高度值,确定所述第一缺漏栅格对应的高度值;其中,所述第一缺漏栅格为高度值为空的二维栅格,所述第一缺漏栅格对应的高度值用于对所述第一缺漏栅格进行高度值填充。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据所述料堆区域内每个二维栅格对应的高度值,在所述料堆区域中识别出满足预设高区域条件的料堆高区域;

针对所述料堆高区域中的第二缺漏栅格,根据所述第二缺漏栅格邻域内的可靠二维栅格对应的高度值,确定所述第二缺漏栅格对应的高度值;其中,所述第二缺漏栅格为高度值为空的二维栅格,所述第二缺漏栅格对应的高度值用于对所述第二缺漏栅格进行高度值填充。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一栅格地图数据还包括每个二维栅格对应的二值信息;所述方法还包括:

根据所述每个二维栅格对应的二值信息,在所述二维栅格地图中进行连通域查找,得到至少一个连通域;

在所述至少一个连通域中,选取连通域的尺寸满足预设干扰物尺寸条件的连通域,确定为干扰物区域;其中,所述预设干扰物尺寸条件是基于所述干扰物的实际尺寸确定的;

在所述第一栅格地图数据中,删除所述干扰物区域内二维栅格对应的高度值,得到所述二维栅格地图对应的第二栅格地图数据;

所述根据所述每个二维栅格对应的高度值,在所述料堆斜坡区域中识别出料堆孤立栅格,包括:

根据所述第一栅格地图数据和所述第二栅格地图数据,在所述二维栅格地图内,除料堆高区域之外的区域中,查找候选孤立栅格集合;

获取所述料堆区域内高度值最大的二维栅格的第一位置数据,以及获取所述候选孤立栅格集合中每个候选孤立栅格的第二位置数据;

根据所述第一位置数据和所述第二位置数据,确定高度值最大的二维栅格与每个候选孤立栅格之间的相对距离;

根据所述相对距离和预存的料堆静态时的安息角,从所述候选孤立栅格集合中确定所述料堆斜坡区域中的料堆孤立栅格。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述在所述第一栅格地图数据中,删除所述干扰物区域内二维栅格对应的高度值,得到所述二维栅格地图对应的第二栅格地图数据,包括:

在所述第一栅格地图数据中,针对每个目标二维栅格,获取所述目标二维栅格邻域内的可靠二维栅格对应的高度值;其中,所述目标二维栅格为所述二维栅格地图中,除位于最边缘的二维栅格之外的二维栅格;

针对每个目标二维栅格,根据所述目标二维栅格邻域内的可靠二维栅格对应的高度值,确定所述目标二维栅格对应的参考高度值;

若所述目标二维栅格对应的高度值与所述参考高度值的差值满足预设离群栅格识别条件,则在所述第一栅格地图数据中,采用所述参考高度值替换所述目标二维栅格对应的高度值,得到所述二维栅格地图对应的第三栅格地图数据;

在所述第三栅格地图数据中,删除所述干扰物区域内二维栅格对应的高度值,得到所述二维栅格地图对应的第二栅格地图数据。

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