[发明专利]一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法

说明书

本发明属于电磁兼容测试领域，具体地说，涉及一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法可用于替代传统的远场测试法，该方法包括：步骤1)布置紧缩场测试系统；步骤2)配置测试系统的校验路径；步骤3)计算测试系统的空损L_real；步骤4)将L_real与理想空损L_ideal进行对比，当L_real与L_ideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；步骤5)配置测试系统的测量路径；步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；步骤7)计算发射机的基波ERP；步骤8)测量谐波和乱真辐射发射ERP的值，并与基波ERP比较，判断待测EUT天线谐波乱真辐射发射是否满足GJB151B的要求，从而完成测试。

技术领域

本发明属于电磁兼容测试技术领域，具体地说，涉及一种替代远场测试天线谐波乱真辐射发射的测试方法，尤其涉及一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法。

背景技术

远场测试法是天线及电磁兼容辐射类测试中常用的测试方法，这种测试方法历史悠久，但是存在着各种限制条件。在天线和电磁兼容远场测试中，对于测试距离的要求有明确的规定，即待测天线的口径的平方与波长之比为所需的最小远场距离。这一限制条件的实质是在自由空间不加限制的情况下，波面的衍射作用使得波面的相位差小于22.5°。针对电大尺寸的EUT天线，这个距离常常能够达到公里量级甚至更远，使得这种测试方法的条件仅具有理论上的可行性，而无法在实际测试当中满足。这一问题在天线测试和电磁兼容领域的测试中屡屡发生。在天线测试当中，为了解决这一问题，提出了近场测试法和紧缩场测试法，近场测试法的算法处理较为复杂，扫描精度要求较高。而紧缩场技术作为远场测试法的替代技术，从一开始问世就得到了广泛的关注，因为紧缩场测试法与远场法相比，测试距离大大的缩短，并且达到远场条件的距离与波长和待测EUT天线的口径均无关，只与场地本身的特性有关。这种测试方法在天线测试中已经被广泛应用并被证明可行，其合理性在于，抓住了远场的本质是波面的相位差，而不是距离，因此只要满足相位差的要求，可以用人为的方式调节这种相位差，使得相位差在短距离内快速达到远场的要求。紧缩场测试法中，反射式、全息式、相控阵式为常见的三种形式。考虑到测试的带宽和极化的特性要求，反射式紧缩场是其中最常用的一种测试场。在天线测试中已经成为电大尺寸天线的测试的首选方法。

然而，在电磁兼容测试领域，目前这种紧缩场代替远场的测试方法仍然没有研究，虽然从理论上这种方法是完全可行的。

发明内容

为解决现有远场测试电磁兼容技术存在的距离过远的缺陷，本发明提出了一种利用紧缩场完成天线谐波乱真辐射发射类测试的测试方法，该方法满足远场条件所提出的相位要求，能够对电磁兼容的远场测试法形成有效的替代。并且该方法能够避免电磁兼容测试的测试频率提高后，远场距离持续增加的问题。

本发明提出了一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，所述方法包括：

步骤1)布置紧缩场测试系统，包括：由馈源和反射面组成的紧缩场、矢量网络分析仪、接收机和信号发生器；

步骤2)将已知增益的天线固定在紧缩场静区，配置测试系统的校验路径；

步骤3)计算测试系统的空损L_real；

步骤4)将L_real与理想空损L_ideal进行对比，当L_real与L_ideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；

步骤5)将待测EUT天线固定在紧缩场静区，配置测试系统的测量路径；

步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；

步骤7)计算发射机的基波ERP；