[发明专利]一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法

权利要求书

1.一种基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，所述方法包括：

步骤1)布置紧缩场测试系统，包括：由馈源和反射面组成的紧缩场、矢量网络分析仪、接收机和信号发生器；

步骤2)将已知增益的天线固定在紧缩场静区，配置测试系统的校验路径；

步骤3)计算测试系统的空损L_real；

步骤4)将L_real与理想空损L_ideal进行对比，当L_real与L_ideal的差值满足设定值时，进入步骤5)，否则，返回步骤3)；

步骤5)将待测EUT天线固定在紧缩场静区，配置测试系统的测量路径；

步骤6)调节待测EUT天线的指向，保证测试值为最大值；

步骤7)计算发射机的基波ERP；

步骤8)测量谐波和乱真辐射发射ERP的值，并与基波ERP比较，判断待测EUT天线谐波乱真辐射发射是否满足GJB151B的要求，从而完成测试。

2.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述接收机为EMI接收机或者频谱仪。

3.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述步骤2)具体包括：

将信号发生器与馈源相连，将馈源作为发射天线；将已知增益的天线作为接收天线，并与接收机相连。

4.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述步骤3)具体包括：

利用矢量网络分析仪测出传输系数S₂₁，设馈源天线增益为G_f，静区接收天线增益为G_r，线缆损耗绝对值为L_loss，实测空损的计算式为：

L_real＝S₂₁-G_t-G_f+L_loss。

5.根据权利要求1所述基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述步骤3)具体包括：

将馈源天线接入已知电平的信号P_k，利用接收机读出待测频率点的示数P_r，设馈源天线增益为G_f，静区接收天线增益为G_r，线缆损耗绝对值为L_loss，实测空损的计算式为：

L_real＝P_r-P_k-G_t-G_f+L_loss。

6.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述步骤4)中，差值满足下式：

|L_real-L_ideal|＜3dB

其中，R为反射面到馈源的距离，λ为波长。

7.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述步骤5)具体包括：

将信号发生器与待测EUT天线相连，以待测EUT天线作为发射天线，以馈源作为接收天线；

将待测EUT天线用销钉固定于紧缩场静区，待测EUT天线的几何中心与紧缩场静区最佳位置重合；

将接收天线后端与接收机相连；当接收机超出量程时，还将接收天线后端与衰减器相连。

8.根据权利要求1所述的基于紧缩场的天线谐波乱真辐射发射类测试方法，其特征在于，所述步骤6)具体包括：保持EUT的放置位置不变，调节天线的俯仰角和方位角，使得EUT辐射方向的最大值能够被接收机测得。