[发明专利]半导体结构及其制备方法在审
| 申请号: | 202211009652.2 | 申请日: | 2022-08-22 |
| 公开(公告)号: | CN115332181A | 公开(公告)日: | 2022-11-11 |
| 发明(设计)人: | 曾以志 | 申请(专利权)人: | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/8242 | 分类号: | H01L21/8242;H01L27/108 |
| 代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 孟秀娟;臧建明 |
| 地址: | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 结构 及其 制备 方法 | ||
本公开提供一种半导体结构及其制备方法,涉及半导体技术领域,用于解决位线结构易产生缩颈的技术问题,该半导体结构的制备方法包括提供具有多个有源结构的基底,每个有源结构具有位线接触区;形成沿第一方向间隔排布的多个导电支撑条,每个导电支撑条沿第二方向延伸;每个导电支撑条连接多个位线接触区,且多个位线接触区沿第二方向排布;第一方向和第二方向相交;形成覆盖各个导电支撑条的侧面和顶面的初始隔离结构;去除位于导电支撑条的顶面上的初始隔离结构;去除至少部分厚度的导电支撑条,以形成第一填充区;其中,被保留下来的初始隔离结构形成隔离结构;在第一填充区内形成位线结构。本公开用于防止位线结构发生倾斜或者缩颈的缺陷。
技术领域
本公开实施例涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构及其制备方法。
背景技术
动态随机存储器(Dynamic random access memory,简称DRAM)是一种高速地、随机地写入和读取数据的半导体存储器,被广泛地应用到数据存储设备或装置中。动态随机存储器一般由多个存储单元组成,每个存储单元通常包括晶体管和电容器。电容器存储数据信息,晶体管控制电容器中的数据信息的读写,其中,晶体管的栅极与动态随机存储器的字线(Word Line,简称WL)电连接,通过字线上的电压控制晶体管的开启和关闭;晶体管的源极和漏极中之一与位线(Bit Line,简称BL)电连接,源极和漏极中的另一个与电容器电连接,通过位线对数据信息进行存储或者输出。
但是,在制备位线时,位线易发生倾斜或者缩颈的缺陷。
发明内容
鉴于上述问题,本公开实施例提供一种半导体结构及其制备方法,用于解决位线易发生倾斜或者缩颈的缺陷。
本公开实施例的第一方面提供一种半导体结构的制备方法,其包括如下步骤:
提供具有多个有源结构的基底,每个所述有源结构具有位线接触区;
形成沿第一方向间隔排布的多个导电支撑条,每个所述导电支撑条沿第二方向延伸;每个所述导电支撑条连接多个所述位线接触区,且多个所述位线接触区沿所述第二方向排布;所述第一方向和所述第二方向相交;
形成覆盖各个所述导电支撑条的侧面和顶面的初始隔离结构;
去除位于所述导电支撑条的顶面上的所述初始隔离结构;
去除至少部分厚度的所述导电支撑条,以形成第一填充区;其中,被保留下来的所述初始隔离结构形成隔离结构;
在所述第一填充区内形成位线结构。
在一些实施例中,去除至少部分厚度的所述导电支撑条的步骤包括:
去除部分厚度所述导电支撑条,剩余的所述导电支撑条构成位线接触,所述位线接触位于所述位线接触区,且所述位线接触的顶面与所述基底的顶面平齐;其中,所述位线接触与所述隔离结构所围成的区域形成第一填充区。
在一些实施例中,在所述第一填充区内形成位线结构的步骤包括:
在所述第一填充区内形成位线,所述位线和所述位线接触构成位线结构。
在一些实施例中,提供具有多个有源结构的基底,每个所述有源结构内具有位线接触区的步骤之后,形成沿第一方向间隔排布的多个导电支撑条的步骤之前,所述制备方法还包括:
去除暴露在所述位线接触区内的部分有源结构,以形成暴露所述位线接触区的第二填充区,所述第二填充区还暴露剩余的所述有源结构的部分侧面。
在一些实施例中,所述导电支撑条的材质为掺杂多晶硅。
在一些实施例中,去除至少部分厚度的所述导电支撑条的步骤包括:
去除全部的所述导电支撑条,以形成第一填充区,所述第一填充区暴露出所述有源结构的所述位线接触区。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长鑫存储技术有限公司,未经长鑫存储技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211009652.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:燃料电池吹扫系统的控制方法与燃料电池吹扫系统
- 下一篇:一种便于清扫的铣床
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





