[发明专利]半导体结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211009652.2 申请日: 2022-08-22
公开(公告)号: CN115332181A 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 曾以志 申请(专利权)人: 长鑫存储技术有限公司
主分类号: H01L21/8242 分类号: H01L21/8242;H01L27/108
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 孟秀娟;臧建明
地址: 230601 安徽省合肥市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 半导体 结构 及其 制备 方法
【说明书】:

本公开提供一种半导体结构及其制备方法,涉及半导体技术领域,用于解决位线结构易产生缩颈的技术问题,该半导体结构的制备方法包括提供具有多个有源结构的基底,每个有源结构具有位线接触区;形成沿第一方向间隔排布的多个导电支撑条,每个导电支撑条沿第二方向延伸;每个导电支撑条连接多个位线接触区,且多个位线接触区沿第二方向排布;第一方向和第二方向相交;形成覆盖各个导电支撑条的侧面和顶面的初始隔离结构;去除位于导电支撑条的顶面上的初始隔离结构;去除至少部分厚度的导电支撑条,以形成第一填充区;其中,被保留下来的初始隔离结构形成隔离结构;在第一填充区内形成位线结构。本公开用于防止位线结构发生倾斜或者缩颈的缺陷。

技术领域

本公开实施例涉及半导体技术领域,尤其涉及一种半导体结构及其制备方法。

背景技术

动态随机存储器(Dynamic random access memory,简称DRAM)是一种高速地、随机地写入和读取数据的半导体存储器,被广泛地应用到数据存储设备或装置中。动态随机存储器一般由多个存储单元组成,每个存储单元通常包括晶体管和电容器。电容器存储数据信息,晶体管控制电容器中的数据信息的读写,其中,晶体管的栅极与动态随机存储器的字线(Word Line,简称WL)电连接,通过字线上的电压控制晶体管的开启和关闭;晶体管的源极和漏极中之一与位线(Bit Line,简称BL)电连接,源极和漏极中的另一个与电容器电连接,通过位线对数据信息进行存储或者输出。

但是,在制备位线时,位线易发生倾斜或者缩颈的缺陷。

发明内容

鉴于上述问题,本公开实施例提供一种半导体结构及其制备方法,用于解决位线易发生倾斜或者缩颈的缺陷。

本公开实施例的第一方面提供一种半导体结构的制备方法,其包括如下步骤:

提供具有多个有源结构的基底,每个所述有源结构具有位线接触区;

形成沿第一方向间隔排布的多个导电支撑条,每个所述导电支撑条沿第二方向延伸;每个所述导电支撑条连接多个所述位线接触区,且多个所述位线接触区沿所述第二方向排布;所述第一方向和所述第二方向相交;

形成覆盖各个所述导电支撑条的侧面和顶面的初始隔离结构;

去除位于所述导电支撑条的顶面上的所述初始隔离结构;

去除至少部分厚度的所述导电支撑条,以形成第一填充区;其中,被保留下来的所述初始隔离结构形成隔离结构;

在所述第一填充区内形成位线结构。

在一些实施例中,去除至少部分厚度的所述导电支撑条的步骤包括:

去除部分厚度所述导电支撑条,剩余的所述导电支撑条构成位线接触,所述位线接触位于所述位线接触区,且所述位线接触的顶面与所述基底的顶面平齐;其中,所述位线接触与所述隔离结构所围成的区域形成第一填充区。

在一些实施例中,在所述第一填充区内形成位线结构的步骤包括:

在所述第一填充区内形成位线,所述位线和所述位线接触构成位线结构。

在一些实施例中,提供具有多个有源结构的基底,每个所述有源结构内具有位线接触区的步骤之后,形成沿第一方向间隔排布的多个导电支撑条的步骤之前,所述制备方法还包括:

去除暴露在所述位线接触区内的部分有源结构,以形成暴露所述位线接触区的第二填充区,所述第二填充区还暴露剩余的所述有源结构的部分侧面。

在一些实施例中,所述导电支撑条的材质为掺杂多晶硅。

在一些实施例中,去除至少部分厚度的所述导电支撑条的步骤包括:

去除全部的所述导电支撑条,以形成第一填充区,所述第一填充区暴露出所述有源结构的所述位线接触区。

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