[发明专利]卷绕方法及卷绕系统

权利要求书

1.一种卷绕方法，用于同步卷绕多个电极组件的卷绕系统，其特征在于，所述卷绕方法包括：

实时获取卷针上的每个电极组件的第一参数和第二参数，所述第一参数为卷绕层数，所述第二参数为膜片长度或卷绕卷径；或，所述第一参数为膜片长度，所述第二参数为卷绕卷径或卷绕层数；

将所述第二参数分别与对应的预设参数范围进行比较，所述预设参数范围是所述电极组件对应的预设标准模型的所述第一参数对应的第二参数的范围；

若所述第二参数大于对应的所述预设参数范围的上限值，减小对应的待卷绕膜片的输出量；

若所述第二参数小于对应的所述预设参数范围的下限值，增大对应的待卷绕膜片的输出量。

2.根据权利要求1所述的卷绕方法，其特征在于，所述减小对应的所述待卷绕膜片的输出量，包括：增大所述待卷绕膜片的张力。

3.根据权利要求1所述的卷绕方法，其特征在于，所述增大对应的所述待卷绕膜片的输出量，包括：减小所述待卷绕膜片的张力。

4.根据权利要求1所述的卷绕方法，其特征在于，所述增大对应的所述待卷绕膜片的输出量，包括：对所述待卷绕膜片进行辊压形成凸起或增大对所述待卷绕膜片辊压形成的凸起的高度。

5.根据权利要求1所述卷绕方法，其特征在于，所述卷绕方法还包括建立预设标准模型，所述建立预设标准模型包括：

模拟标准厚度的膜片的卷绕，并设定所述预设参数范围，生成预设标准模型，所述预设参数范围根据所述标准厚度的膜片卷绕时的所述第一参数对应的所述第二参数设定。

6.根据权利要求1所述卷绕方法，其特征在于，所述多个电极组件为同一型号的电极组件，所述多个电极组件对应于同一个预设标准模型；

或，所述多个电极组件至少包括两种型号的电极组件，同一型号的电极组件对应于同一个所述预设标准模型，所述预设标准模型的数量与所述电极组件的型号数量相等。

7.一种卷绕方法，用于同步卷绕多个电极组件的卷绕系统，其特征在于，所述卷绕方法包括：

实时获取卷针上的每个电极组件的第一参数和第二参数，所述第一参数为卷绕卷径，所述第二参数为膜片长度或卷绕层数；

将所述第二参数分别与对应的预设参数范围进行比较，所述预设参数范围是所述电极组件对应的预设标准模型的所述第一参数对应的第二参数的范围；

若所述第二参数大于对应的所述预设参数范围的上限值，增大对应的待卷绕膜片的输出量；

若所述第二参数小于对应的所述预设参数范围的下限值，减小对应的待卷绕膜片的输出量。

8.根据权利要求7所述的卷绕方法，其特征在于，所述减小对应的所述待卷绕膜片的输出量，包括：增大所述待卷绕膜片的张力。

9.根据权利要求7所述的卷绕方法，其特征在于，所述增大对应的所述待卷绕膜片的输出量，包括：减小所述待卷绕膜片的张力。

10.根据权利要求7所述的卷绕方法，其特征在于，所述增大对应的所述待卷绕膜片的输出量，包括：对所述待卷绕膜片进行辊压形成凸起或增大对所述待卷绕膜片辊压形成的凸起的高度。

11.根据权利要求7所述卷绕方法，其特征在于，所述卷绕方法还包括建立预设标准模型，所述建立预设标准模型包括：

模拟标准厚度的膜片的卷绕，并设定所述预设参数范围，生成预设标准模型，所述预设参数范围根据所述标准厚度的膜片卷绕时的所述第一参数对应的所述第二参数设定。

12.根据权利要求7所述卷绕方法，其特征在于，所述多个电极组件为同一型号的电极组件，所述多个电极组件对应于同一个预设标准模型；

或，所述多个电极组件至少包括两种型号的电极组件，同一型号的电极组件对应于同一个所述预设标准模型，所述预设标准模型的数量与所述电极组件的型号数量相等。