[发明专利]干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量的预估方法在审
| 申请号: | 202210976480.X | 申请日: | 2022-08-15 |
| 公开(公告)号: | CN115308094A | 公开(公告)日: | 2022-11-08 |
| 发明(设计)人: | 李为华;谭子杰;张丹 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
| 主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G01N1/28 |
| 代理公司: | 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 | 代理人: | 徐筱梅;张翔 |
| 地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 动态 图像 粒度 测量 最小 有效 取样 预估 方法 | ||
1.一种干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量预估方法,其特征在于该预估方法具体包括下述步骤:
1)使用不同粒径的代表性沉积物样品基于干式动态图像法测量装置测量其粒度特征,率定获得最小有效取样量估算经验公式;
2)取微量未知待测样品基于干式动态图像法快速测量其粒度特征,估算其最小有效取样量;
3)称取最小有效取样量的未知待测样品,基于干式动态图像法正式测量其粒度特征。
2.根据权利要求1所述的干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量的预估方法,其特征在于所述步骤1)的率定获得最小有效取样量估算经验公式具体包括下述步骤:
步骤101:制备n个由细及粗的α克代表性沉积物样品干样作为标准样品,各样品标记为S1,S2,…,Sn,其中,α的取值范围为30~150g;
步骤102:将第i(i=1,2,…,n)个标准样品Si随机取βg制备子样S(i,1),基于干式动态图像法粒度仪器测量该子样的粒度特征,得微量子样S(i,1)的平均粒径快速测试值Dm(i,1),即β克微量子样平均粒径Dm(i,1),所述β微量子样的取值范围为2~5g;
步骤103:从步骤102的Si标准样品中随机取样γ克混合至子样S(i,1),得Si标准样品的第j个子样S(i,j),基于干式动态图像法粒度仪测量该子样的粒度特征,得S(i,j)子样的平均粒径Dm(i,j),即γ克微量子样平均粒径Dm(i,j),所述γ微量子样的取值范围为5~10g;
步骤104:重复步骤103,直至Si标准样品全部添加完,得Si标准样品质量由少到多的m个子样的平均粒径序列[Dm(i,1),Dm(i,2),…,Dm(i,m)],以及对应子样质量序列[β,β+γ,β+2γ,…,α];
步骤105:计算Si标准样品每一子样相对于全样平均粒径测量值的相对误差Err(i,j),得Si标准样品质量由少到多的m个子样的平均粒径误差序列[Err(i,1),Err(i,2),…,Err(i,m)],对应子样质量序列[β,β+γ,β+2γ,…,α],所述相对误差Err(i,j)由下述(a)式计算:
步骤106:根据步骤105所得子样平均粒径误差序列[Err(i,1),Err(i,2),…,Err(i,m)]与对应的子样质量序列[β,β+γ,β+2γ,…,α],插值计算平均粒径误差末次收敛至±5%时的样品临界质量,作为Si标准样品的最小有效取样量Wcr(i=1,2,…,n);
步骤107:重复步骤102至步骤106,直至获得所有n个标准样品的β克微量子样平均粒径Dm(i,1)、全样平均粒径Dm(i,m)和最小有效取样量Wcr(i);
步骤108:以β克微量子样平均粒径Dm(i,1)为自变量,全样平均粒径Dm(i,m)为因变量,计算Dm(i,1)和Dm(i,m)一阶线性拟合曲线的90%置信区间上边界并拟合自变量Dm(i,1)和因变量组成下述(b)式表示的多项式方程:
式中,k1、k2、k3和k4为拟合常数;
步骤109:以步骤107所得全样平均粒径Dm(i,m)为自变量,样品最小有效取样量Wcr(i)为因变量,得下述(c)式表示的线性拟合方程:
Wcr(i)=k5Dm(i,m)+k6 (c);
式中,k5和k6为拟合常数;
步骤110:将上述(b)式代入(c)式,得到由下述(d)式表示的最小有效取样量偏保守的估算经验公式Wcr(i):
Wcr(i)=k5(k1Dm(i,1)3+k2Dm(i,1)2+k3Dm(i,1)+k4)+k6 (d)。
3.根据权利要求1所述的的干式动态图像法粒度测量所需最小有效取样量的预估方法,其特征在于所述步骤2)的最小有效取样量的估算具体包括下述步骤:
步骤201:称取β克微量未知待测样品,使用干式动态图像法粒度仪测量其粒度特征,得β克微量样品的平均粒径快速测试值,即β克微量子样平均粒径Dm(i,1);
步骤202:将上述β克微量子样平均粒径Dm(i,1)代入估算经验公式Wcr(i),得到未知待测样品的最小有效取样量Wcr(i);
步骤203:如步骤202所得最小有效取样量Wcr(i)不大于βg,步骤201测量β克微量子样平均粒径Dm(i,1)为该未知待测样品的最终质量可控数据;反之,称取步骤202估计所得最小有效取样量的未知待测样品,并基于动态图像法粒度仪测量其粒度特征,所得粒度数据即为该未知待测样品的最终质量可控数据。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东师范大学,未经华东师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210976480.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 彩色图像和单色图像的图像处理
- 图像编码/图像解码方法以及图像编码/图像解码装置
- 图像处理装置、图像形成装置、图像读取装置、图像处理方法
- 图像解密方法、图像加密方法、图像解密装置、图像加密装置、图像解密程序以及图像加密程序
- 图像解密方法、图像加密方法、图像解密装置、图像加密装置、图像解密程序以及图像加密程序
- 图像编码方法、图像解码方法、图像编码装置、图像解码装置、图像编码程序以及图像解码程序
- 图像编码方法、图像解码方法、图像编码装置、图像解码装置、图像编码程序、以及图像解码程序
- 图像形成设备、图像形成系统和图像形成方法
- 图像编码装置、图像编码方法、图像编码程序、图像解码装置、图像解码方法及图像解码程序
- 图像编码装置、图像编码方法、图像编码程序、图像解码装置、图像解码方法及图像解码程序





