[发明专利]具有显微镜的显微术布置及其操作方法

说明书

本发明涉及操作具有第一显微镜(1)和至少一个其他显微镜(3)的显微术布置(M)的方法，其中显微镜(1、3)各具有光轴(2.1、4.1)且光轴(2.1、4.1)不重合。根据本发明的方法包含步骤A至F，其中设定三维参考坐标系；将实施为接收且保持样品载体(7)的载体设备(6)引入到由光轴(2.1)相交的第一显微镜(1)的样品平面(9)中且引入到第一显微镜(1)的光轴(2.1)上；在光轴(2.1)上设定参考点(11)；将载体设备(6)递送到其他显微镜(3)，其中参考点(11)的当前坐标被连续捕获并且与其他显微镜(3)的光轴(4.1)的坐标比较；将参考点(11)带入到第二光轴(4.1)上。此外，本发明涉及显微术布置(M)。

本申请是申请日为2018年08月15日且发明名称为“具有显微镜的显微术布置及其操作方法”的中国专利申请No.201810932399.5的分案申请。

技术领域

本发明涉及操作具有第一显微镜和至少一个其他显微镜的显微术布置的方法，并且涉及显微术布置。

背景技术

如果通过不同显微镜和/或不同显微术方法检查将要检查的样品，则当将样品从一个显微镜转移到其他显微镜时找到(寻回)将要检查的样品的区域(感兴趣区域，ROI)是有问题的。

在对表示为“传统”的样品的显微镜检查的工作流程中，将所述样品放置在适当的载物体上并且相对于显微镜的光轴设定。随后，可以如果需要的话首先通过目镜，以低放大率和大视场(FoV)记录样品的概览图像，以便于识别样品的感兴趣区域(ROI)。随后，可以使用不同的检查方法(例如(荧光)对比方法、DIC(微分干涉对比)、偏振对比、相位对比、霍夫曼(Hoffmann)调制对比、暗场照明等)来检查样品。

如果仅使用一个显微镜系统应该应用不同的检查方法，则该一个显微镜系统必须具有目镜束路径和至少一个照相机束路径。另外，需要例如反射的光和透射的光照明、物镜交换装置、滤光器交换装置、(多个)光瞳匹配(pupil engagement)、针对例如DIC(微分干涉对比)的部件等。

用于显微镜的臂可以促进显微镜的倒置或正置布置。为了允许不同的检查方法的应用，臂需要其他例如用于激光扫描显微镜(LSM)、全内反射荧光显微镜(TIRF显微镜)、荧光方法(例如光漂白后荧光恢复；FRAP)的接口、光阑相关性的Vivatome、旋转盘、产生结构照明的单元(例如Apotome等)、或其组合。在这些系统中，样品实质上保持在相同位置处，并且所以可以使用不同物镜和/或方法来检查相同的样品区域。在此缺点是，许多接口或许多光学路径和切换装置不得不在照明侧和检测侧二者保持可用，以便于能够操作所有选择项(方法、模式)。此外，常规臂总是不得不具有例如物镜旋转器的物镜交换设备，以便于能够操作不同模式(例如，在提供概览图像和具有高分辨率的图像之间的变化)。自然而然地，相对于独立的、固定装配的物镜，这样的物镜交换设备对光学系统的稳定性有损害(所谓的偏移)。

与其相比的是具有指定物镜布置的专用的显微术系统，其非常具体地设计用于诸如SPIM的一种检查方法。作为示例，这些不允许物镜交换。甚至诸如DIC、偏振对比等的替代性对比方法只可能在非常受限的范围使用这些物镜布置。

如果使用专用检查方法且例如使用常规显微术二者来检查同一个样品，则采用相关联的方法(如从光和电显微镜术的组合已知的)是必要的。

在此，将样品从专用系统运输到常规显微镜，反之亦然，会出现寻回样品中的ROI的问题。该进程还称为“穿梭和找到”。这可以或是使用非常精确制造的样品框(其形成参考坐标系)、或是通过有标记的样品容器(其例如具有列举的网格)来实行，基于其可以在相应的其他显微镜系统中寻回该期望位置。然而，该进程是耗时的且需要密集工作，并且不确保以令人满意的方式在模式之间快速且重复的交换。

现有技术已经公开了实施为以不同检查方法检查样品的显微镜布置。