[发明专利]具有显微镜的显微术布置及其操作方法

权利要求书

1.一种显微术布置，包括：

第一显微镜和至少一个其他显微镜，其中所述显微镜中的每一个具有光轴，所述第一显微镜的所述光轴(下文有时称为“第一光轴”)与所述至少一个其他显微镜的所述光轴(下文有时称为“其他光轴”)不重合；

载体，其实施为在所述布置中接收且保持样品载体；

坐标测量设备，通过所述坐标测量设备来连续捕获或可捕获所述载体设备的当前坐标；

计算机，其承载在所述布置中以设置三维参考坐标系，其中所述第一显微镜的光轴的范围的坐标和所述至少一个其他显微镜的光轴的范围的坐标是已知的并且被储存，或者其中将通过至少一个所述坐标测量设备所确立的所述第一显微镜的光轴的范围的坐标以及所述至少一个其他显微镜的其他光轴的范围的坐标储存并且当作参考轴线；

运输设备，其在所述布置中实施为将所述载体设备递送到所述光轴中的一个，同时所述运输设备实施为将所述载体从第一测量位置运输至第二测量位置，在所述第一测量位置进行使用所述第一显微镜的成像，在所述第二测量位置进行使用第二显微镜的成像；

公共检测器，用于从所述第一显微镜和第二显微镜的检测束路径接收检测光，同时所述第一显微镜和第二显微镜的检测束路径通过束统一器彼此叠加，并且沿着公共束路径被引入到所述公共检测器的公共像平面中，

所述计算机配置为将通过所述坐标测量设备所捕获的所述载体设备的当前坐标与所述至少一个其他显微镜的光轴的坐标进行比较，其中实现了在所述第一显微镜的光轴上所设定的参考点的坐标和所述至少一个其他显微镜的光轴的坐标之间的比较；

控制器，其取决于通过在所述参考点的当前坐标和所述其他光轴的坐标之间的比较而确立的差异来产生控制命令，并且取决于所述控制命令来控制所述载体的递送运动，使得以所述参考点与所述其他光轴重合的方式来定位所述载体设备。

2.根据权利要求1所述的显微术布置，其中，

所述第一显微镜和/或所述至少一个其他显微镜各具有照明物镜和检测物镜，它们各自的光轴彼此垂直并且被指引到样品平面中并且包含与所述样品平面和所述样品平面的法线不同于零的角度，样品布置或者可布置在所述样品平面中；

所述照明物镜配置为产生与所述样品平面相交的光片。

3.根据权利要求2所述的显微术布置，其中，

所述照明物镜和所述检测物镜布置为倒置方式，使得将它们的光轴穿过样品载体指引或可指引到所述样品平面上。

4.根据权利要求1所述的显微术布置，其中，

如果将要检测到来自所述第一测量位置的像平面的检测束，则通过第一镜筒透镜或中继光学单元，将所述第一测量位置和第二测量位置的样品平面成像到公共检测器上的公共像平面上；或者如果将要检测到来自所述第二测量位置的像平面的检测束，则通过所述公共束路径中的第二镜筒透镜，将所述第一测量位置和第二测量位置的样品平面成像到公共检测器上的公共像平面上；其中第一镜筒透镜和第二镜筒透镜具有不同的焦距。

5.根据权利要求1所述的显微术布置，其中，

所述束和第二镜筒透镜形成一组，所述组能够分别被引入所述公共束路径中或从所述公共束路径移除。