[发明专利]电缆缓冲层的缺陷检测方法、装置和设备

权利要求书

1.一种电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取待测电缆的电缆基本参数、电阻测量参数和电缆盘的电缆盘基本参数；其中，所述待测电缆设于所述电缆盘上，所述电阻测量参数包括分别位于所述电缆盘内侧和外侧的所述待测电缆的皱纹金属套和绝缘屏蔽层之间的电缆内侧端口电阻和电缆外侧端口电阻；

将所述电缆基本参数、所述电缆盘基本参数和所述电阻测量参数作为输入数据，并将所述输入数据和预设的第一超参数向量输入到预设的第一体积电阻率计算模型中，以及将所述输入数据和预设的第二超参数向量输入到预设的第二体积电阻率计算模型中；其中，所述第一体积电阻率计算模型和所述第二体积电阻率计算模型为在训练过程中采用相同输入数据和不同输出数据作为样本数据训练得到的高斯回归模型，所述输出数据分别采用不同计算方式计算得到；

获取所述第一体积电阻率计算模型输出的第一体积电阻率和所述第二体积电阻率计算模型输出的第二体积电阻率；

根据所述第一体积电阻率和所述第二体积电阻率计算总体积电阻率；

将所述总体积电阻率与预设的评价参数进行比对，以得到所述待测电缆的缓冲层缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述获取待测电缆的电阻测量参数，包括：

将位于所述电缆盘内侧的所述待测电缆的端头穿出的孔洞与所述电缆盘轴心处于同一水平面；

静置预设时间段后，将位于所述电缆盘内侧和外侧的所述待测电缆的防水封堵、短段外护套、皱纹金属套及缓冲层剥离；

在位于所述电缆盘内侧的所述待测电缆的皱纹金属套和绝缘屏蔽层分别连接导体网带，并将两处导体网带分别连接到直流电阻测试仪两端进行电阻测量，以获取若干个第一测量值，取所述第一测量值的均值为所述电缆内侧端口电阻；

在位于所述电缆盘外侧的所述待测电缆的皱纹金属套和绝缘屏蔽层分别连接导体网带，并将两处导体网带分别连接到直流电阻测试仪两端进行电阻测量，以获取若干个第二测量值，取所述第二测量值的均值为所述电缆外侧端口电阻。

3.如权利要求1所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述第一体积电阻率计算模型和所述第二体积电阻率计算模型的训练方法包括：

采集若干组样本电缆的电缆基本参数、电阻测量参数和对应的电缆盘基本参数作为输入数据，将所述输入数据和预先计算得到的与所述样本电缆对应的输出数据作为训练数据；

根据所述电缆基本参数、所述电缆盘基本参数和所述电阻测量参数构建目标核函数；

利用所述目标核函数、所述输入数据和所述输出数据构建高斯回归模型；

对所述高斯回归模型进行优化得到体积电阻率计算模型，并输出所述高斯回归模型优化后的超参数。

4.如权利要求3所述的电缆缓冲层的缺陷检测方法，其特征在于，所述输出数据包括采用第一计算策略计算得到的第一输出数据和采用第二计算策略计算得到的第二输出数据，则，所述体积电阻率计算模型包括第一体积电阻率计算模型和所述第二体积电阻率计算模型，所述优化后的超参数包括与所述第一体积电阻率计算模型对应的第一超参数向量以及与所述第二体积电阻率计算模型对应的第二超参数向量。