[发明专利]一种芯片级光传输性能参数测量装置和方法

说明书

本申请涉及一种芯片级光传输性能参数测量装置和方法，该装置包括：电源模块，用于向待测芯片上的调制器、加热器提供工作电压；信号发生器，用于与调制器连接，对调制器施加预设频率的波动信号；调节模块，用于在预设环境温度下，对加热器的功率进行调节，以及对待测芯片的光源的驱动电流进行调节；测量模块，用于接收经调制器调制后输出的光信号，基于光信号确定不同加热器功率下待测芯片的消光比以及不同光源驱动电流下待测芯片的光调制幅度。本申请可以在芯片级别对器件的高速性能进行测试，测量成本低、效率高，可以实现在生产前期对合格芯片进行筛选，从而降低后期封装过程的损耗，可以提高光模块成品率。

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，特别涉及一种芯片级光传输性能参数测量装置和方法。

背景技术

在现在的光通信网络中，光模块是光纤通信中重要的器件之一，需要具有高品质且稳定的性能。然而，目前关于光模块的性能测量是将组装好的光模块接入高速测量系统中进行的，器件的高速性能调试也是在封装完成后进行的。

现有的光模块性能测量方法局限于直接使用高速发射信号（眼图）测量光模块的速传输性能，这种眼图测量方法使用的测量设备价格高昂，且需要消耗大量的时间和成本投入。

因此，亟需提供一种改进的测量方法以降低测试成本、提高测试效率，提高光模块的成品率。

发明内容

本申请实施例提供了一种芯片级光传输性能参数测量装置和方法，可以在芯片级别对器件的高速性能进行测试，测量成本低、效率高，可以实现在生产前期对合格芯片进行筛选，从而降低后期封装过程的损耗，可以提高光模块成品率。同时通过对测量参数的分析处理可以为后期成品模块提供自动控制数据平台。

一方面，本申请实施例提供了一种芯片级光传输性能参数测量装置，包括：

电源模块，用于向待测芯片上的调制器、加热器提供工作电压；

信号发生器，用于与调制器连接，对调制器施加预设频率的波动信号；

调节模块，用于在预设环境温度下，对加热器的功率进行调节，以及对待测芯片的光源的驱动电流进行调节；

测量模块，用于接收经调制器调制后输出的光信号，基于光信号确定不同加热器功率下待测芯片的消光比以及不同光源驱动电流下待测芯片的光调制幅度。

在一些可能的实施例中，装置还包括多路探针；待测芯片的光源包括设于待测芯片上的激光器；电源模块包括激光器驱动电源和加热器驱动电源；

多路探针，用于将信号发生器与调制器连接，将激光器驱动电源与激光器连接，将加热器驱动电源与加热器连接。

在一些可能的实施例中，待测芯片上设有激光功率监测器；激光功率监测器用于确定激光器输出的光信号功率；

多路探针，还用于与激光功率监测器连接，获取激光器输出的光信号功率。

在一些可能的实施例中，测量模块包括光电转换子模块和性能参数测量子模块；

光电转换子模块的输入端与调制器的输出端相对应，光电转换子模块用于将调制器输出的光信号转换为电信号；

性能参数测量子模块包括示波器和计算单元，示波器用于显示电信号图像；计算单元用于基于电信号图像确定光功率参数。

在一些可能的实施例中，光电转换子模块包括光电传感器；

或者；

光电转换子模块包括依次连接的耦合光纤、分光器、光衰减器、光接收器，以及与分光器输出端连接的功率检测器。

在一些可能的实施例中，装置还包括用于固定待测芯片的测量平台；