[发明专利]量子点光学模拟方法、装置、系统及计算机可读存储介质

说明书

本申请公开了一种量子点光学模拟方法、装置、系统及计算机可读存储介质，涉及显示技术领域。获取显示模组在暗室环境下对应的特征参数，特征参数包括显示模组在多个不同的量子点参数中每个量子点参数下的色域参数，或者显示模组中的第一量子点色片在每个量子点参数下的光学参数。根据需求信息，以及显示模组在暗室环境下对应的特征参数，从多个不同的量子点参数中确定与需求信息对应的目标量子点参数。本申请通过对量子点色片进行多个量子点参数的设定，可以得到显示模组的特征参数，根据需求信息和特征参数，可以提前通过对显示模组的模拟计算，确定产品的目标量子点参数，有效的缩短了产品开发的周期，使产品开发更有效率。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别涉及一种量子点光学模拟方法、装置、系统及计算机可读存储介质。

背景技术

在显示技术领域中，量子点显示因其高色彩饱和度的性能优势，成为各显示技术厂商开发的重点方向，因此该技术也成为了布局下一代新型显示的革新技术。量子点显示技术的原理主要是通过背光模组中的蓝光透过量子点薄膜来实现色转换。

目前，在基于量子点显示技术的产品在设计过程中，对光学规格有一定要求，比如，色域、亮度、大视角色偏等参数，这就需要对开发出来的新产品进行光学量测，以确认是否达到光学规格，若不符合规格，就需重新设计各个参数，以达到要求所需的规格。

发明内容

本申请提供了一种量子点光学模拟方法、装置、系统及计算机可读存储介质，通过量测显示模组的光学参数，根据光学参数下对应的不同量子点参数，准确模拟量子点显示产品中的量子点参数，如量子点浓度或量子点厚度等，这样对客户需求的量子点显示产品的提前满足需求，有效的缩短产品开发周期。

所述技术方案如下：

第一方面，提供了一种量子点光学模拟方法，包括：获取显示模组在暗室环境下对应的特征参数，所述特征参数包括所述显示模组在多个不同的量子点参数中每个所述量子点参数下的色域参数，或者所述显示模组中的第一量子点色片在每个所述量子点参数下的光学参数；

根据需求信息，以及所述显示模组在暗室环境下对应的特征参数，从多个不同的量子点参数中确定与所述需求信息对应的目标量子点参数。本申请通过对量子点色片进行多个量子点参数的设定，可以得到显示模组在不同量子点参数下的色域参数，或者显示模组中的第一量子点色片在每个量子点参数下的光学参数。由于显示模组在多个量子点参数中的每个量子点参数下均对应一个色域参数或者光学参数，因此可以结合产品所需的需求色域参数或需求光学参数，以及显示模组在多个量子点参数下的色域参数或光学参数，选择需求色域参数或需求光学参数对应的量子点参数，这样可以提前通过对显示模组的模拟计算，确定产品的需求色域参数或需求光学参数的量子点参数，有效的缩短了产品开发的周期，使产品开发更有效率。

可选的，所述显示模组从下至上依次包括背光模组，以及位于所述背光模组上的所述第一量子点色片，获取所述暗室环境下所述显示模组在多个不同的量子点参数中每个所述量子点参数下的色域参数，包括：

获取光学量测设备量测到的所述显示模组中所述第一量子点色片在不同量子点参数下的第一色坐标参数；

获取光学量测设备量测到的所述背光模组在每个所述量子点参数下的第二色坐标参数；

根据所述第一色坐标参数和所述第二色坐标参数，确定所述显示模组在每个所述量子点参数下的色域参数。

可选的，所述光学参数包括半峰宽参数或频谱参数，获取所述显示模组中的第一量子点色片在每个所述量子点参数下的光学参数，包括：

获取光学量测设备量测到的所述第一量子点色片在每个所述量子点参数下的半峰宽参数或者所述频谱参数。