[发明专利]量子点光学模拟方法、装置、系统及计算机可读存储介质有效

专利信息
申请号: 202210883445.3 申请日: 2022-07-26
公开(公告)号: CN115167798B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 王然龙;康报虹 申请(专利权)人: 惠科股份有限公司
主分类号: G06F3/14 分类号: G06F3/14;G06N10/20
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 胡明强
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 量子 光学 模拟 方法 装置 系统 计算机 可读 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种量子点光学模拟方法,其特征在于,包括:

获取显示模组在暗室环境下对应的特征参数,所述显示模组从下至上依次包括背光模组,以及位于所述背光模组上的第一量子点色片,所述第一量子点色片为红色量子点色片,或绿色量子点色片,所述特征参数包括所述显示模组在多个不同的量子点参数中每个所述量子点参数下的色域参数,或者所述显示模组中的第一量子点色片在每个所述量子点参数下的光学参数,所述光学参数包括半峰宽参数或频谱参数;

根据需求信息,以及所述显示模组在暗室环境下对应的特征参数,从多个不同的量子点参数中确定与所述需求信息对应的目标量子点参数,所述量子点参数为量子点浓度,或量子点色片的厚度。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述暗室环境下所述显示模组在多个不同的量子点参数中每个所述量子点参数下的色域参数,包括:

获取光学量测设备量测到的所述显示模组中所述第一量子点色片在不同量子点参数下的第一色坐标参数;

获取光学量测设备量测到的所述背光模组在每个所述量子点参数下的第二色坐标参数;

根据所述第一色坐标参数和所述第二色坐标参数,确定所述显示模组在每个所述量子点参数下的色域参数。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述显示模组中的第一量子点色片在每个所述量子点参数下的光学参数,包括:

获取光学量测设备量测到的所述第一量子点色片在每个所述量子点参数下的半峰宽参数或者所述频谱参数。

4.根据权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

以所述目标量子点参数作为第二量子点色片的量子点参数,从所述量子点色片对应的多个不同的散射粒子浓度中,确定与所述需求信息对应的所述散射粒子浓度,所述第二量子点色片为所述第一量子点色片或除所述第二量子点色片外的其他量子点色片。

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述以所述目标量子点参数作为第二量子点色片的量子点参数,从所述量子点色片对应的多个不同的散射粒子浓度中,确定与所述需求信息对应的所述散射粒子浓度,包括:

以所述目标量子点参数作为所述第二量子点色片的量子点参数的情况下,量测所述第二量子点色片在多个所述散射粒子浓度下的亮度参数和大视角参数;

根据所述第二量子点色片在多个所述散射粒子浓度下的亮度参数和大视角参数,确定与所述需求信息对应的所述散射粒子浓度。

6.根据权利要求1~3任一项所述的量子点光学模拟方法,其特征在于,所述显示模组中的背光模组为蓝色背光模组,所述蓝色背光模组的蓝色光的波长的范围为440~470nm。

7.一种量子点光学模拟装置,其特征在于,所述装置包括:

获取单元,用于获取显示模组在暗室环境下对应的特征参数,所述显示模组从下至上依次包括背光模组,以及位于所述背光模组上的第一量子点色片,所述第一量子点色片为红色量子点色片,或绿色量子点色片,所述特征参数包括所述显示模组在多个不同的量子点参数中每个所述量子点参数下的色域参数,或者所述显示模组中的第一量子点色片在每个所述量子点参数下的光学参数,所述光学参数包括半峰宽参数或频谱参数;

确定单元,用于根据需求信息,以及所述显示模组在暗室环境下对应的特征参数,从多个不同的量子点参数中确定与所述需求信息对应的目标量子点参数,所述量子点参数为量子点浓度,或量子点色片的厚度。

8.一种量子点光学模拟系统,其特征在于,所述系统包括:光学量测设备,以及显示模组,所述光学量测设备用于量测光学特性,所述光学量测设备运行如权利要求1~6任一项所述的量子点光学模拟方法。

9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质中存储有指令,当所述指令被执行时,实现如权利要求1~6任一项所述的量子点光学模拟方法。

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