[发明专利]薄膜晶体管及其制造方法、显示面板在审

专利信息
申请号: 202210879512.4 申请日: 2022-07-25
公开(公告)号: CN115188828A 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 杨从星;田超;艾飞 申请(专利权)人: 武汉华星光电技术有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/10;H01L27/12;H01L21/336
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 张惠
地址: 430079 湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 薄膜晶体管 及其 制造 方法 显示 面板
【权利要求书】:

1.一种薄膜晶体管,其特征在于,所述薄膜晶体管包括:

保温层,所述保温层包括凹槽;

结晶有源图案,所述结晶有源图案的至少部分位于所述凹槽中;

源漏电极,包括间隔设置的源极和漏极,所述源极和所述漏极均与所述结晶有源图案连接;

栅极,对应所述结晶有源图案设置。

2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,沿垂直于所述保温层的厚度的方向,所述凹槽的开口尺寸小于或等于200纳米。

3.根据权利要求2所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述结晶有源图案为单晶粒。

4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管,其特征在于,沿垂直于所述保温层的厚度的方向,所述凹槽的开口尺寸大于200纳米。

5.根据权利要求4所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述结晶有源图案位于所述凹槽中,所述结晶有源图案包括至少两个晶格,相邻两个所述晶格之间有晶界,所述晶界的延伸方向与所述结晶有源图案的延伸方向相同。

6.根据权利要求1-5任一项所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述凹槽的深度小于或等于所述保温层的厚度。

7.根据权利要求1-5任一项所述的薄膜晶体管,其特征在于,所述保温层的厚度大于或等于3000埃且小于或等于10000埃。

8.一种薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:

形成一保温层,所述保温层包括凹槽;

形成结晶有源图案,所述结晶有源图案的至少部分位于所述凹槽中;

形成源漏电极和栅极,所述源漏电极包括间隔设置的源极和漏极,所述源极和所述漏极均与所述结晶有源图案连接,栅极对应所述结晶有源图案设置。

9.根据权利要求8所述的薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述形成结晶有源图案包括如下步骤:

至少于所述凹槽中形成非晶硅半导体层;

利用准分子激光退火工艺对所述非晶硅半导体层进行退火处理,得到结晶硅半导体层;

对所述结晶硅半导体层进行图案化处理,得到所述结晶有源图案。

10.一种显示面板,其特征在于,所述显示面板包括如权利要求1-7任一项所述薄膜晶体管。

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