[发明专利]时钟芯片及频率测量方法

说明书

本发明公开了一种时钟芯片及频率测量方法，该时钟芯片包括频率测量模块，频率测量模块与锁存寄存器连接，频率测量模块在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，基准频率由测试系统根据时钟源获取，在接收到测试系统的测试指令时，基于基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中。由于本发明通过内部的频率测量模块基于基准频率自动对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至锁存寄存器中，测试系统可直接读取锁存寄存器中的频率测量值，相较于现有技术使用频率计在测量频率时需要配合频率测量电路，本发明上述时钟芯片简化了测试系统和流程，有效降低了设备成本。

技术领域

本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种时钟芯片及频率测量方法。

背景技术

目前，时钟芯片在生产测试过程中，频率测量是一项非常重要的项目，频率测量的效率越高，时钟芯片的生产效率也越高。现有的测试方法是使用频率计对芯片进行频率测试，在生产测试系统中对所有芯片进行轮询测试，或者使用多台频率计进行测试。但是使用频率计测量频率时，需要手动操作，并且需要配合频率测量电路，每一片芯片或多片芯片公用一个测量电路，测试系统和流程复杂，导致测量需要的成本较高。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供了一种时钟芯片及频率测量方法，旨在解决现有技术使用频率计的频率测量方法在测量频率时，需要手动操作，并且需要配合频率测量电路，每一片芯片或多片芯片公用一个测量电路，测试系统和流程复杂，导致测量需要的成本较高的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种时钟芯片，所述时钟芯片包括频率测量模块；

所述频率测量模块与锁存寄存器连接；

所述频率测量模块，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中。

可选地，所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内基于所述基准频率确定实际测试时间；

所述频率测量模块，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间。

可选地，所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率。

可选地，所述时钟芯片还包括FLAG模块；

所述FLAG模块分别与所述频率测量模块和所述锁存寄存器连接；

所述FLAG模块，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；