[发明专利]时钟芯片及频率测量方法

权利要求书

1.一种时钟芯片，其特征在于，所述时钟芯片包括频率测量模块；

所述频率测量模块与锁存寄存器连接；

所述频率测量模块，用于在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述频率测量模块，还用于在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

所述频率测量模块，还用于通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率，t₀为实际测试时间；

所述频率测量模块，还用于通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间；

其中，所述时钟芯片还包括FLAG模块；

所述FLAG模块分别与所述频率测量模块和所述锁存寄存器连接；

所述FLAG模块，用于在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；

所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。

2.如权利要求1所述的时钟芯片，其特征在于，所述FLAG模块，还用于在检测到所述锁存寄存器被写入数据时，将所述测量标志位中的结束位设置为1，以使所述测试系统在检测到所述结束位为1时读取所述锁存寄存器中的所述频率测量值。

3.如权利要求1所述的时钟芯片，其特征在于，所述锁存寄存器，用于在当前频率测量值被所述测试系统读取时，将所述频率测量值清零；

所述FLAG模块，还用于在检测到所述寄存器中的数据清零时，将所述测量标志位的开始位和结束位均设置为0。

4.如权利要求2所述的时钟芯片，其特征在于，所述FLAG模块，还用于在检测到所述测量标志位中的开始位为0，结束位为1时，判定测试过程中存在错误，终止测试。

5.一种基于权利要求1至4任一项所述时钟芯片的频率测量方法，其特征在于，所述频率测量方法包括以下步骤：

在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取；

在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述在接收到所述测试系统的测试指令时，基于所述基准频率对当前频率进行测量，并将频率测量值存储至所述锁存寄存器中的步骤，包括：

在接收到所述测试系统的测试指令时，获取当前标准频率的实际上升沿数量；

在所述实际上升沿数量对应的范围内获取所述基准频率的上升沿数量；

通过预设时间公式基于所述基准频率的上升沿数量和所述基准频率确定实际测试时间；

其中，所述预设时间公式为：

，

其中，N_源为基准频率的上升沿数量，f_源为基准频率，t₀为实际测试时间；

通过预设频率公式基于所述实际上升沿数量和所述实际测试时间确定当前频率，并将所述当前频率的频率测量值存储至所述锁存寄存器中；

其中，所述预设频率公式为：

，

其中，f为实际频率，N_实为当前频率的实际上升沿数量，t₀为实际测试时间；

其中，所述在测量标志位中的开始位为1时，从测试系统中获取基准频率，所述基准频率由所述测试系统根据时钟源获取的步骤之前，还包括：

在接收到所述测试系统的测试指令时，检测所述测量标志位中的开始位和结束位；

在检测到所述测量标志位中的开始位和结束位均为0时，将所述测量标志位中的开始位设置为1。