[发明专利]一种拨叉、拨叉的结构校核方法和装置

权利要求书

1.一种拨叉的结构校核方法，其特征在于，应用于有限元分析环境中，所述方法包括：

获取拨叉和齿套的轴向装配间隙，其中，所述拨叉的侧接触面为凸曲面；

根据所述轴向装配间隙在所述凸曲面上确定出目标位置，其中，所述目标位置为所述拨叉上与所述齿套接触的位置；

对所述拨叉的预设加载点加载载荷，获得所述目标位置对所述拨叉的加载形变；

根据所述加载形变，确定所述拨叉的结构校核结果。

2.根据权利要求1所述的拨叉的结构校核方法，其特征在于，所述凸曲面包括上接触段、中接触段和下接触段，所述根据所述轴向装配间隙在所述凸曲面上确定出目标位置，包括：

在所述轴向装配间隙小于预设的间隙区间时，确定所述下接触段为所述目标位置；

在所述轴向装配间隙在预设的间隙区间时，确定所述中接触段为所述目标位置；

在所述轴向装配间隙大于预设的间隙区间时，确定所述上接触段为所述目标位置。

3.根据权利要求1所述的拨叉的结构校核方法，其特征在于，所述对所述拨叉的预设加载点加载载荷，获得所述拨叉的端面形变之前，还包括：

根据所述拨叉和所述齿套的轴向单侧间隙，调整至所述拨叉的侧接触面与所述齿套贴合。

4.根据权利要求1所述的拨叉的结构校核方法，其特征在于，所述对所述拨叉的预设加载点加载载荷，获得所述目标位置对所述拨叉的加载形变，包括：

根据加载载荷的加载力，确定所述目标位置的区域面积；

加载所述加载力至所述预设加载点，将所述区域面积对所述拨叉的反作用力形变确定为所述加载形变。

5.根据权利要求4所述的拨叉的结构校核方法，其特征在于，所述凸曲面包括上接触段、中接触段和下接触段，所述根据所述加载载荷的加载力，确定所述目标位置的区域面积，包括：

在所述加载力小于预设阈值时，确定所述目标位置的区域面积为所述下接触段的面积；

在所述加载力不小于预设阈值时，确定所述目标位置的区域面积为所述上接触段、所述中接触段和所述下接触段的面积之和。

6.根据权利要求1所述的拨叉的结构校核方法，其特征在于，所述根据所述加载形变，确定所述拨叉的结构校核结果，包括：

根据加载间隙和所述加载形变的变形量，获得实际形变量，其中，所述加载间隙为所述拨叉和所述齿套沿加载方向的间隙；

在所述实际形变量小于形变阈值时，确定所述拨叉的结构校核合格；

在所述实际形变量不小于形变阈值时，确定所述拨叉的结构校核不合格，并调整所述拨叉的结构重复校核，直至所述实际形变量小于所述形变阈值。

7.一种拨叉，其特征在于，所述拨叉经权利要求1-6中任一所述的方法进行结构校核。

8.一种拨叉的结构校核装置，其特征在于，应用于有限元分析环境中，所述装置包括：

获取模块，用于获取拨叉和齿套的轴向装配间隙，其中，所述拨叉的侧接触面为凸曲面；

第一确定模块，用于根据所述轴向装配间隙在所述凸曲面上确定出目标位置，其中，所述目标位置为所述拨叉上与所述齿套接触的位置；

获得模块，用于对所述拨叉的预设加载点加载载荷，获得所述目标位置对所述拨叉的加载形变；

第二确定模块，用于根据所述加载形变，确定所述拨叉的结构校核结果。

9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器耦接到所述处理器，所述存储器存储指令，当所述指令由所述处理器执行时使所述电子设备执行权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述方法的步骤。