[发明专利]基于透射成像的检测装置和检测方法

说明书

本申请公开了一种基于透射射线的检测装置和检测方法。基于本申请，检测装置中可以设置有位姿可切换的射线屏蔽构件，其中，在该射线屏蔽构件堆叠在用于承载待检测对象的承载平面之内时，可以得到包含射线屏蔽构件对应的射线屏蔽区域的校准图像，并且，利用该射线屏蔽构件的构件物理尺寸和射线屏蔽区域的区域图像尺寸，可以将尺寸转换系数校准为与当前的选定成像倍率相适配，从而，对于在射线屏蔽构件避让在待检测对象的承载平面之外时获取的检测图像，利用校准后的尺寸转换系数对待检测对象在检测图像中的目标构造影像的构造图像尺寸进行转换，即可得到待检测对象的构造物理尺寸，从而能够基于透射成像实现对待检测对象的构造物理尺寸的测量。

技术领域

本申请涉及检测领域，特别涉及一种基于透射成像的检测装置、以及一种基于透射成像的检测方法。

背景技术

在工业检测领域中，待检测对象的内部构造可以通过对待检测对象的透射成像来检测，例如，检测设备可以包括射线源和射线探测模组，射线源产生的诸如X射线等透射射线可以穿透待检测对象、并被射线探测模组接收，从而，射线探测模组可以得到对待检测对象透射成像的检测图像。检测图像中可以包括待检测对象中被透射射线透射的所有内部构造的目标构造影像，这样的目标构造影像可以直观反映出待检测对象的内部构造信息。

在某些情况下，需要测量待检测对象中被特别关注的内部构造的尺寸。然而，基于透射成像的检测不能实现对待检构件的构造物理尺寸的测量功能，因此，需要借助诸如声波检测等其他的额外检测手段，由此增加了检测成本。

因此，如何实现基于透射成像的物理尺寸测量，成为现有技术中有待解决的技术问题。

发明内容

在本申请的实施例中，提供了一种基于透射成像的检测装置、以及一种基于透射成像的检测方法，能够基于透射成像实现对待检测对象的构造物理尺寸的测量。

本申请的一个实施例提供了一种基于透射成像的检测装置，包括：

射线源，用于产生透射射线；

射线探测模组，与所述射线源相对布置；

承载机构，具有用于在所述射线源和所述射线探测模组之间承载待检测对象的承载平面；

射线屏蔽构件，具有避让在所述承载平面之外的旁置位姿、以及堆叠在所述承载平面之内的校准位姿；

控制模组，用于：

将所述射线屏蔽构件置于所述校准位姿、并获取所述射线探测模组以选定成像倍率成像得到的校准图像，所述校准图像包含所述射线屏蔽构件对应的射线屏蔽区域；

基于所述射线屏蔽构件的实测物理尺寸、以及所述射线屏蔽区域的区域图像尺寸，校准尺寸转换系数；

将所述射线屏蔽构件置于所述旁置位姿、并获取所述射线探测模组以所述选定成像倍率成像得到的检测图像，所述检测图像包含所述待检测对象中的目标对象构造的目标构造影像；

利用所述目标构造影像的构造图像尺寸、以及校准后的所述尺寸转换系数，确定所述待检测对象的构造物理尺寸。

在一些示例中，可选地，所述射线屏蔽构件的外轮廓尺寸小于所述承载平面的外轮廓尺寸；所述控制模组进一步用于在所述射线探测模组成像得到所述校准图像之前：控制所述承载机构在所述射线源和所述射线探测模组之间平移，使处于所述校准位姿的所述射线屏蔽构件全部位于所述透射射线的透射区域内。

在一些示例中，可选地，所述承载机构包括托盘，所述承载平面为所述托盘的上表面；所述射线屏蔽构件包括屏蔽板，所述实测物理尺寸包括所述屏蔽板的外轮廓尺寸。

在一些示例中，可选地，所述校准位姿为所述屏蔽板与所述托盘平行贴合的位姿。

在一些示例中，可选地，所述屏蔽板为含铅板材。