[发明专利]基于透射成像的检测装置和检测方法

权利要求书

1.一种基于透射成像的检测装置，其特征在于，包括：

射线源(10)，用于产生透射射线；

射线探测模组(20)，与所述射线源(10)相对布置；

承载机构，具有用于在所述射线源(10)和所述射线探测模组(20)之间承载待检测对象的承载平面(30)；

射线屏蔽构件(50)，具有避让在所述承载平面(30)之外的旁置位姿、以及堆叠在所述承载平面(30)之内的校准位姿；

控制模组(60)，用于：

将所述射线屏蔽构件(50)置于所述校准位姿、并获取所述射线探测模组(20)以选定成像倍率成像得到的校准图像，所述校准图像包含所述射线屏蔽构件(50)对应的射线屏蔽区域；

基于所述射线屏蔽构件(50)的实测物理尺寸、以及所述射线屏蔽区域的区域图像尺寸，校准尺寸转换系数；

将所述射线屏蔽构件(50)置于所述旁置位姿、并获取所述射线探测模组(20)以所述选定成像倍率成像得到的检测图像，所述检测图像包含所述待检测对象中的目标对象构造的目标构造影像；

利用所述目标构造影像的构造图像尺寸、以及校准后的所述尺寸转换系数，确定所述目标对象构造的构造物理尺寸。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述射线屏蔽构件(50)的外轮廓尺寸小于所述承载平面(30)的外轮廓尺寸；

所述控制模组(60)进一步用于在所述射线探测模组(20)成像得到所述校准图像之前：控制所述承载机构在所述射线源(10)和所述射线探测模组(20)之间平移，使处于所述校准位姿的所述射线屏蔽构件(50)全部位于所述透射射线的透射区域内。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，

所述承载机构包括托盘，所述承载平面(30)为所述托盘的上表面；

所述射线屏蔽构件(50)包括屏蔽板，所述实测物理尺寸包括所述屏蔽板的外轮廓尺寸。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，

所述校准位姿为所述屏蔽板与所述托盘平行贴合的位姿。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，进一步包括：

执行机构(70)，用于在所述控制模组(60)的控制下调节所述射线屏蔽构件(50)相对于所述承载平面(30)的相对位姿，以执行所述射线屏蔽构件(50)在所述旁置位姿与所述校准位姿之间的切换操作；

其中，所述切换操作包括：

所述射线屏蔽构件(50)相对于所述承载平面(30)的翻转；或者，

所述射线屏蔽构件(50)相对于所述承载平面(30)的平转；或者，

所述射线屏蔽构件(50)相对于所述承载平面(30)的平移。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述控制模组(60)被具体配置为：

基于所述区域图像尺寸、以及所述实测物理尺寸，确定所述射线探测模组(20)的单位像素对应的单位物理尺寸；

将所述尺寸转换系数的系数值校准为所述单位物理尺寸；

基于所述构造图像尺寸、以及所述单位物理尺寸，确定所述构造物理尺寸。

7.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述控制模组(60)进一步用于：

响应于输入的系数校准指令，触发将所述射线屏蔽构件(50)置于所述校准位姿的位姿切换、以及对所述尺寸转换系数的校准；或者，

响应于所述射线源(10)和所述射线探测模组(20)相对于所述承载平面(30)的间隔距离以所述选定成像倍率为目标的调节到位，触发将所述射线屏蔽构件(50)置于所述校准位姿的位姿切换、以及对所述尺寸转换系数的校准；或者，

响应于输入的尺寸测量指令，检测所述尺寸转换系数的最新校准时间、以及所述射线源(10)和所述射线探测模组(20)相对于所述承载平面(30)的间隔距离的最新调整时间，其中，若所述最新校准时间早于或等于所述最新调整时间，则，触发将所述射线屏蔽构件(50)置于所述校准位姿的位姿切换、以及对所述尺寸转换系数的校准。