[发明专利]定位逻辑系统设计的错误的方法、电子设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种定位逻辑系统设计的错误的方法、电子设备及存储介质。所述方法包括：使用多个测试案例来测试所述逻辑系统设计；根据所述测试的结果将所述多个测试案例分为通过案例组和失败案例组，所述测试的结果包括所述多个测试案例的覆盖率数据；至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征；以及根据所述多个关键特征定位所述逻辑系统设计的错误。采用本方法能够减少错误定位时间，准确的确定逻辑系统设计中错误的源头的位置。

技术领域

本申请涉及错误调试技术领域，特别是涉及一种定位逻辑系统设计的错误的方法、电子设备及存储介质。

背景技术

随着计算机技术的迅速发展，错误调试在芯片开发过程中、以及仿真测试过程中的地位日益提高，而在错误调试过程中，错误定位是代价最昂贵且最耗时的活动之一。

目前错误定位的方式通常是由开发人员手动进行的，这些技术包括运行软件、单步执行、代码评审等。然而，在代码数据量大、逻辑复杂的情况下，这种通过开发人员手动进行错误定位的方式非常耗费时间。

而且在案例中出现错误时，出现错误的位置可能影响案例中其他位置的对应的功能，其他功能也会出现异常，进而导致错误定位的准确率不高，无法确定错误产生的源头。并且目前错误定位的方法极大地依赖于开发人员的个人技能。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种减少错误定位时间，准确的确定逻辑系统设计中错误的源头的位置的定位逻辑系统设计的错误的方法、电子设备及存储介质。

第一方面，本申请提供了一种定位逻辑系统设计的错误的方法。所述方法包括：

使用多个测试案例来测试所述逻辑系统设计；

根据所述测试的结果将所述多个测试案例分为通过案例组和失败案例组，所述测试的结果包括所述多个测试案例的覆盖率数据；

至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征；以及

根据所述多个关键特征定位所述逻辑系统设计的错误。

在其中一个实施例中，所述多个测试案例具有相同的测试模式。

在其中一个实施例中，所述至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征，进一步包括：

确定所述逻辑系统设计中的多个覆盖点的覆盖率数据；

根据所述多个覆盖点的覆盖率数据的变化确定多个关键特征。

在其中一个实施例中，所述至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征，进一步包括：

确定所述通过案例组的多个第一特征以及所述失败案例组的多个第二特征；

根据所述多个第一特征和所述多个第二特征确定所述多个关键特征。

在其中一个实施例中，所述根据所述多个关键特征定位所述逻辑系统设计的错误，进一步包括：

确定所述多个关键特征对应的所述逻辑系统设计的多个范围；

根据所述多个范围来定位所述逻辑系统设计的错误。

在其中一个实施例中，所述根据所述多个范围来定位所述逻辑系统设计的错误，进一步包括：

确定多个范围之间的至少一个重叠范围；

根据所述重叠范围定位所述逻辑系统设计的错误。

在其中一个实施例中，所述多个测试案例的覆盖率数据之间的差异在预设的第一范围内。