[发明专利]定位逻辑系统设计的错误的方法、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种定位逻辑系统设计的错误的方法，其特征在于，所述方法包括：

使用多个测试案例来测试所述逻辑系统设计；

根据所述测试的结果将所述多个测试案例分为通过案例组和失败案例组，所述测试的结果包括所述多个测试案例的覆盖率数据；

至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征；以及

根据所述多个关键特征定位所述逻辑系统设计的错误。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多个测试案例具有相同的测试模式。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征，进一步包括：

确定所述逻辑系统设计中的多个覆盖点的覆盖率数据；

根据所述多个覆盖点的覆盖率数据的变化确定多个关键特征。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少根据所述失败案例组中的测试案例的覆盖率数据来确定多个关键特征，进一步包括：

确定所述通过案例组的多个第一特征以及所述失败案例组的多个第二特征；

根据所述多个第一特征和所述多个第二特征确定所述多个关键特征。

5.如权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个关键特征定位所述逻辑系统设计的错误，进一步包括：

确定所述多个关键特征对应的所述逻辑系统设计的多个范围；

根据所述多个范围来定位所述逻辑系统设计的错误。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个范围来定位所述逻辑系统设计的错误，进一步包括：

确定多个范围之间的至少一个重叠范围；

根据所述重叠范围定位所述逻辑系统设计的错误。

7.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多个测试案例的覆盖率数据之间的差异在预设的第一范围内。

8.如权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述覆盖率数据的数据类型至少包括：代码覆盖率数据、或功能覆盖率数据，所述代码覆盖率至少包括：行覆盖率数据、分支覆盖率数据、断言数据、赋值翻转率数据、或条件赋值覆盖率数据。

9.一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。