[发明专利]一种芯片散热装置及制作方法在审

专利信息
申请号: 202210635663.5 申请日: 2022-06-06
公开(公告)号: CN115050712A 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 李佩笑;杨云春;陆原;裘进 申请(专利权)人: 北京海创微芯科技有限公司
主分类号: H01L23/467 分类号: H01L23/467;B81B3/00;B81C1/00
代理公司: 北京众达德权知识产权代理有限公司 11570 代理人: 查薇
地址: 101407 北京市怀柔区雁栖经济*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 散热 装置 制作方法
【说明书】:

发明涉及芯片封装技术领域,尤其涉及一种芯片散热装置,该芯片散热装置包括:基板、第一悬臂梁、第二悬臂梁和空气通道;所述空气通道的第一开口和第二开口均设置在所述基板的上表面,所述空气通道设置在所述基板的内部;所述第一悬臂梁设置在所述第一开口上,所述第二悬臂梁设置在所述第二开口上。该芯片散热装置构建了三维芯片的散热结构,有利于散热结构和多芯片的集成,提高芯片的散热效率,在保障三维芯片中的多芯片的散热效率的条件下,不影响芯片的性能和利用率。

技术领域

本发明涉及芯片封装技术领域,尤其涉及一种芯片散热装置及制作方法。

背景技术

通过三维集成技术,将多层芯片堆叠键合形成三维芯片。在三维芯片中,由于将芯片进行三维立体布局,一般大功率芯片在最底层,小功率在上层,造成多层芯片热源堆叠,使三维芯片的热耦合效应明显。同时,由于三维芯片的封装体积减小,使得三维芯片的体热流密度更大,引发三维芯片中的芯片散热效率低的问题。

发明内容

本申请实施例通过提供一种芯片散热装置及制作方法,解决了现有技术中三维芯片中的芯片散热效率低的技术问题,并且通过MEMS工艺,实现了三维芯片的散热结构,有利于散热结构和多芯片的集成,提高芯片的散热效率,在保障三维芯片中的多芯片的散热效率的条件下,不影响芯片的性能和利用率等技术效果。

第一方面,本发明实施例提供一种芯片散热装置,包括:基板、第一悬臂梁、第二悬臂梁和空气通道;

所述空气通道的第一开口和第二开口均设置在所述基板的上表面,所述空气通道设置在所述基板的内部;

所述第一悬臂梁设置在所述第一开口上,所述第二悬臂梁设置在所述第二开口上。

优选的,所述基板包括第一晶圆和第二晶圆,所述第二晶圆键合在所述第一晶圆下方;

所述空气通道还包括:第一凹槽、第二凹槽和管道;所述第一凹槽和所述第二凹槽均设置在所述第一晶圆上;所述管道的一端与所述第一凹槽的底部连通,另一端与所述第二凹槽的底部连通,且所述管道设置在所述第一晶圆和所述第二晶圆的连接处,其中,所述第一凹槽的开口为所述第一开口,所述第二凹槽的开口为所述第二开口。

优选的,所述空气通道还包括:第一通孔、第二通孔和孔道;所述第一通孔和所述第二通孔均设置在所述第一晶圆上;所述孔道设置在所述第二晶圆上,所述孔道的一端与所述第一通孔的一端连通,所述孔道的另一端与所述第二通孔的一端连通,其中,所述第一通孔的另一端为所述第一开口,所述第二通孔的另一端为所述第二开口。

优选的,所述第一悬臂梁包括多个压电悬臂梁;所述第一悬臂梁中的每个压电悬臂梁均包括第一电极薄膜、压电薄膜和第二电极薄膜,其中,所述第一电极薄膜设置在所述第一开口上,所述压电薄膜设置在所述第一电极薄膜之上,所述第二电极薄膜设置在所述压电薄膜之上。

优选的,所述管道的个数为多个。

优选的,还包括芯片,所述芯片位于所述基板之上,且所述芯片位于所述第一悬臂梁和所述第二悬臂梁之间。

基于同一发明构思,第二方面,本发明还提供一种芯片散热装置的制作方法,包括:

在基板上形成空气通道的第一开口和第二开口;其中,所述第一开口和所述第二开口均设置在所述基板的上表面;

在所述第一开口上形成第一悬臂梁,并在所述第二开口上形成第二悬臂梁;

在形成所述第一悬臂梁和所述第二悬臂梁之后,在所述基板的内部形成所述空气通道。

优选的,所述基板包括第一晶圆和第二晶圆,其中,所述第二晶圆位于所述第一晶圆下方;

所述在基板上形成空气通道的第一开口和第二开口,包括:

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