[发明专利]测量装置、光轴转换单元、测量方法以及存储介质

权利要求书

1.一种测量装置，其特征在于，具有：

望远镜部，能够沿准直轴发送光或接收光，以及

光轴转换单元，具有将沿所述准直轴的光路的光轴在相对于所述准直轴的径向上偏移的光学构件，使所述偏移的转换光轴能够绕所述准直轴转动。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述光学构件具有：

第一逆反射构件，具有与所述望远镜部的望远镜侧开口面对置的第一开口面，并相对于所述望远镜部偏移地配置，

第二逆反射构件，具有与所述第一开口面对置的第二开口面，并相对于所述望远镜部以及所述第一逆反射构件偏移地配置，以及

转动部，设置成一边使所述第二逆反射构件的转换光轴朝向测定对象一边使所述第一逆反射构件以及所述第二逆反射构件能够绕所述准直轴转动。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，

具有光轴转动驱动部，所述光轴转动驱动部能够对所述转动部进行转动控制。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

具有转动检测部，所述转动检测部能够检测所述光学构件的绕所述准直轴的转动位置以及转动量中的一者或两者。

5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述光轴转换单元形成为能够相对于所述望远镜部装卸。

6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述望远镜部相对于基座部以能够绕水平轴以及铅垂轴转动的方式连接，

所述光轴转换单元构成为，在转动过程中，以使测定对象位于由所述光学构件转换的转换光轴上的方式，相对于所述基座部能够绕所述水平轴以及所述铅垂轴转动。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其特征在于，

具有控制部，所述控制部根据在所述光学构件的绕所述准直轴的不同的转动位置接收到的来自测定对象的多个光图像，求出所述光图像的平均重心位置。

8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述光学构件为角锥棱镜。

9.一种光轴转换单元，其特征在于，

具有光学构件，所述光学构件能够装卸地形成于能够发送光和接收光的望远镜部，将沿所述望远镜部的准直轴的光路的光轴在相对于所述准直轴的径向上偏移，

将所述偏移的转换光轴设置为能够绕所述准直轴转动。

10.一种测量方法，用于测量装置，其特征在于，

所述测量装置具有：

望远镜部，能够沿准直轴发送光或接收光，以及

光学构件，将沿所述准直轴的光路的光轴在相对于所述准直轴的径向上偏移；

所述测量方法包括以下工序：

使所述偏移的转换光轴绕所述准直轴转动，以及

在所述光学构件的绕所述准直轴的不同的转动位置，所述测量装置接收从测定对象被导光的光。

11.一种存储有测量程序的存储介质，其特征在于，

所述测量程序用于使计算机执行以下工序：

在具有能够沿准直轴发送光或接收光的望远镜部和将沿所述准直轴的光路的光轴在相对于所述准直轴的径向上偏移的光学构件的测量装置中，使所述偏移的转换光轴绕所述准直轴转动，以及

在所述光学构件的绕所述准直轴的不同的转动位置，所述测量装置接收从测定对象被导光的光。