[发明专利]一种集成电路中可靠性分析的测试结构及测试方法

权利要求书

1.一种集成电路中可靠性分析的测试结构，包括测试结构底座(1)，所述测试结构底座(1)的正面固定安装有控制元件(2)，所述测试结构底座(1)的上端固定安装有支撑架(3)，其特征在于：所述支撑架(3)的上端固定安装有液压缸(4)，所述液压缸(4)的输出端固定安装有伸缩柱(5)，所述伸缩柱(5)的下端固定安装有测试罩(6)；

所述测试罩(6)的下端开设有凹槽，所述测试支撑座(7)的上端固定安装有连接块(8)，所述连接块(8)的右端固定安装有弹簧元件(9)，所述弹簧元件(9)的右端固定安装有限位滑块(10)，所述测试支撑座(7)设置在测试结构底座(1)的上端。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于：所述测试结构底座(1)的上端开设有第一滑槽(13)，所述第一滑槽(13)的右端设置有第二滑槽(11)，所述第一滑槽(13)的内部活动连接有主动轴(14)，所述第一滑槽(13)的内部固定安装有驱动电机(15)，所述驱动电机(15)的输出端固定安装有主动轴(14)。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于：所述第二滑槽(11)的内部活动连接有从动轴(12)，所述从动轴(12)的外部固定安装有第三从齿轮(22)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于：所述主动轴(14)的外部固定安装有主齿轮(19)，所述主齿轮(19)的外部啮合连接有第一从齿轮(20)。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于：所述第一从齿轮(20)的右端固定安装有连接轴(23)，所述连接轴(23)的右端固定安装有第二从齿轮(21)，所述第二从齿轮(21)的右端与第三从齿轮(22)的上端啮合连接。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于：所述测试罩(6)的内部固定安装有测试主板(16)，凹槽的内部顶端固定安装有测试元件(17)，所述测试元件(17)的下端固定安装有测试杆(18)。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，其特征在于：所述测试支撑座(7)的下端固定安装有固定块，且主动轴(14)贯穿所述固定块的两端，所述第一滑槽(13)的内部与固定块的外部相适配，测试支撑座(7)的外部小于凹槽的内部，所述测试罩(6)的材料设置为亚克力板。

8.一种集成电路中可靠性分析的测试结构的测试方法，其特征在于：该方法适用于权利要求书1-6所述的一种集成电路中可靠性分析的测试结构，所述首先将电路板摆放到测试支撑座(7)的上端，先对一侧的限位滑块(10)进行挤压，随之对弹簧元件(9)进行挤压，随后将电路板与测试支撑座(7)的上端贴合，随后利用弹簧元件(9)的反弹力对限位滑块(10)进行推动，在推动的过程中对另一侧的限位滑块(10)和弹簧元件(9)进行挤压，随之利用两端的弹簧元件(9)的反弹力可以对限位滑块(10)进行推动，随之可以对电路板进行挤压，利用控制元件(2)对驱动电机(15)的控制，使得驱动电机(15)带动主动轴(14)与主齿轮(19)进行转动，随之通过主齿轮(19)带动第一从齿轮(20)、第二从齿轮(21)和连接轴(23)进行转动，随之带动第三从齿轮(22)与从动轴(12)进行转动，可以利用从动轴(12)与主动轴(14)带动测试支撑座(7)进行移动，在移动到中部后，利用液压缸(4)对伸缩柱(5)的控制，使得对测试罩(6)进行推动，随之可以将测试罩(6)罩在测试支撑座(7)的外部，因为测试罩(6)是亚克力板制作的，因此可以在外部观察到内部的检测情况，随后在下降到合适的位置后，利用测试元件(17)与测试杆(18)对电路板进行检测，随后通过测试主板(16)进行计算传输。