[发明专利]一种模板化的存储器测试图形发生器及方法

权利要求书

1.一种模板化的存储器测试图形发生器，其特征在于：包括测试处理器（4）、简单存储测试图形发生器（6）、通道时序与波形发生器（11）、电子管脚（12），所述测试处理器（4）包括时序发生器（1）、测试图形发生器（2）、SMPG控制指令发生器（3）、图形储存器和存储控制器，所述存储控制器分别与时序发生器（1）、测试图形发生器（2）、SMPG控制指令发生器（3）、图形储存器连接，所述测试图形发生器（2）分别与时序发生器（1）、SMPG控制指令发生器（3）连接，所述测试处理器（4）将控制指令发给简单存储测试图形发生器（6）；

所述简单存储测试图形发生器（6）包括X地址发生器（7）、Y地址发生器（8）、D数据发生器（9）、SMPG与通道映射（10），所述SMPG与通道映射（10）分别与X地址发生器（7）、Y地址发生器（8）、D数据发生器（9）连接，所述X地址发生器（7）与Y地址发生器（8）连接；所述通道时序与波形发生器（11）的进线端和SMPG与通道映射（10）连接，所述通道时序与波形发生器（11）的出线端和电子管脚（12）连接；

所述X地址发生器（7）由一个算术逻辑单元ALU及16bit位宽的X地址寄存器组成，所述Y地址发生器（8）由一个算术逻辑单元ALU及16bit位宽的Y地址寄存器组成，所述D数据发生器（9）由一个算术逻辑单元ALU及16bit位宽的D地址寄存器组成；

所述X地址寄存器包括X地址预设值寄存器Preset、X地址常量寄存器Const和X地址使能寄存器Enable，所述X地址发生器（7）的计算结果由其算术逻辑单元ALU获得的指令和X地址预设值寄存器Preset、X地址常量寄存器Const和X地址使能寄存器Enable控制；所述Y地址寄存器包括Y地址预设值寄存器Preset、Y地址常量寄存器Const和Y地址使能寄存器Enable，所述Y地址发生器（8）的计算结果由其算术逻辑单元ALU获得的指令和Y地址预设值寄存器Preset、Y地址常量寄存器Const和Y地址使能寄存器Enable控制；所述D地址寄存器包括D地址预设值寄存器Preset、D地址常量寄存器Const和D地址使能寄存器Enable，所述D数据发生器（9）的计算结果由其算术逻辑单元ALU获得的指令和D地址预设值寄存器Preset、D地址常量寄存器Const和D地址使能寄存器Enable控制；

所述简单存储测试图形发生器（6）根据上位机提供的SMPG资源映射表计算出的并行数据与被测器件的管脚一对一映射。

2.根据权利要求1所述模板化的存储器测试图形发生器，其特征在于：所述SMPG资源映射表包括MapName、PinName、总线配置集、Capture，其中，MapName表示映射资源名称，PinName表示需要映射到SMPG并行数据的DUT管脚，总线配置集为定义管脚上映射的SMPG资源X0-X15、Y0-Y15和D0-D31，Capture表示需要捕获返回数据给SMPG的DUT管脚。

3.根据权利要求2所述模板化的存储器测试图形发生器，其特征在于：所述测试处理器（4）的指令集采用ATE专用指令集。

4.一种基于权利要求1所述模板化的存储器测试图形发生器的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤1，测试处理器（4）加载主测试图形文件，测试处理器（4）产生时序和电平，测试处理器（4）将产生的时序和电平发送给简单存储测试图形发生器（6）；

步骤2，简单存储测试图形发生器（6）加载时序和加载电平，判断是否启用简单存储测试图形发生器（6），若启用简单存储测试图形发生器（6），则向简单存储测试图形发生器（6）配置SMPG资源映射表，同时配置X地址预设值寄存器Preset、X地址常量寄存器Const、X地址使能寄存器Enable、Y地址预设值寄存器Preset、Y地址常量寄存器Const、Y地址使能寄存器Enable、D地址预设值寄存器Preset、D地址常量寄存器Const和D地址使能寄存器Enable；简单存储测试图形发生器（6）计算出的并行数据与被测器件的管脚一对一映射，然后执行图形文件；若不启用简单存储测试图形发生器（6），则执行图形文件；

步骤3，根据图形文件执行结果，判断测试是否通过。

5.根据权利要求4所述测试方法，其特征在于：判断测试是否通过后，集成电路自动测试设备通知处理者进行是否通过分选操作，若判断测试为通过，则集成电路自动测试设备通知处理者选择通过；若判断测试为不通过，则集成电路自动测试设备通知处理者选择不通过。