[发明专利]一种轴承的内外径尺寸测量装置和测量方法在审

专利信息
申请号: 202210519104.8 申请日: 2022-05-13
公开(公告)号: CN114910034A 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 郭勇华;陈金贵;李水涵 申请(专利权)人: 韦士肯(厦门)智能科技有限公司
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10;G01B21/14
代理公司: 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 代理人: 刘建科
地址: 361000 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 轴承 外径 尺寸 测量 装置 测量方法
【说明书】:

发明提供一种轴承的内外径尺寸测量装置和测量方法,测量装置包括机架、升降支撑座、下压推进机构、外径测量机构和内径测量机构;能够同时对轴承的内外径尺寸进行测量,相较于现有技术中分别检测内径和外径的方式,装置结构简单且测量效率高。

技术领域

本发明涉及轴承的检测领域,具体涉及一种轴承的内外径尺寸测量装置和测量方法。

背景技术

轴承是一种比较精密的配件,其外观和尺寸的要求比较严格,需要符合相关行业对标,因此,在轴承出厂前,需要对轴承的各个尺寸、外观等参数进行检测。现有技术中,对于轴承的内外径尺寸的测量是分开的,需要二种机构和工位,成本高且检测时间较长。

发明内容

为此,本发明提供一种轴承的内外径尺寸测量装置以及基于该测量装置的测量方法,能够同时对轴承的内外径尺寸进行测量,结构简单且测量效率高。

为实现上述目的,本发明提供的技术方案如下:

一种轴承的内外径尺寸测量装置,包括机架以及装配于机架上的升降支撑座、下压推进机构、外径测量机构和内径测量机构;所述升降支撑座用于支撑待测轴承,所述下压推进机构具有对应升降支撑座的下压组件,以通过下压组件将升降支撑座上的轴承下压至测量工位;所述外径测量机构包括多组固定设置的阻挡组件、至少一组活动设置的推进组件和对应推进组件的第一位移传感器;阻挡组件和推进组件分布于待测轴承的外围;所述下压推进机构还具有对应推进组件的平推组件,以通过平推组件驱动所述推进组件移动,进而推动轴承同时抵接在多组阻挡组件上而实现定位;所述内径测量机构包括活动设置的移动组件和对应移动组件的第二位移传感器;所述移动组件对应待测轴承的内圈;待测轴承的下压驱动移动组件平移。

进一步的,所述阻挡组件包括固定块和连接于固定块上的挡杆,所述固定块固定于所述机架上,所述挡杆竖向设置以阻挡待测轴承;所述机架上设置有长槽孔,所述固定块可拆卸的固定于所述长槽孔上。

进一步的,所述机架上设置有滑轨,所述推进组件和移动组件均设置于所述滑轨上。

进一步的,所述推进组件包括固定块、滑块、触发板、推杆和拉簧,所述固定块可拆卸的固定于滑轨上;所述滑块可滑动的装配于滑轨上,所述拉簧的两端分别连接固定块和滑块,所述推杆呈竖向设置并连接于滑块上;所述触发板固定在滑块上并对应所述第一位移传感器。

进一步的,所述移动组件包括固定块、滑块、触发板、接触杆和拉簧,所述固定块可拆卸的固定于滑轨上;所述滑块可滑动的装配于滑轨上,所述拉簧的两端分别连接固定块和滑块,所述接触杆呈竖向设置并连接于滑块上,所述接触杆的端部设置有用于与待测轴承的内圈相抵接的倾斜导向面,所述触发板固定在滑块上并对应所述第二位移传感器。

进一步的,所述第一位移传感器和第二位移传感器均为非接触式位移传感器。

进一步的,所述升降支撑座包括支撑座、弹簧、导向套和导向杆,所述导向杆设置有多个并分别连接在支撑座上,所述导向套固定于机架上,所述导向杆穿设于所述导向套内,所述弹簧套设于导向杆上并对导向杆施加一朝上的弹力。

进一步的,所述下压推进机构包括驱动组件、所述下压组件和所述平推组件,所述下压组件被限制为竖向活动,所述平推组件被限制为水平活动;所述平推组件与下压组件之间形成倾斜导向配合;所述驱动组件驱动连接所述下压组件,以驱动下压组件升降,所述下压组件的升降移动带动平推组件平移。

进一步的,所述驱动组件包括电机、偏心轮和连接板,所述电机固定于机架上,所述偏心轮连接所述电机的转轴,所述连接板的一端铰接于偏心轮的偏心轴上,另一端铰接于下压组件上。

进一步的,所述平推组件包括对应推进组件的连接块,所述连接块上装配有抵接轮,所述连接块和抵接轮之间还设置有弹性缓冲件。

一种轴承的内外径尺寸测量方法,包括如下步骤:

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