[发明专利]一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置

说明书

本发明公开了一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置，包括：根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；为该验证项目确定对应的验证试验项目；基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。利用本发明的方法可以为多种国产电子元器件的通用质量特性验证项目提供指导，有针对性地开展验证工作，给出具体的验证方法，确保国产电子元器件在应用中的风险降至最低。

技术领域

本发明涉及电子器件技术领域，尤其涉及一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置。

背景技术

随着国际形势的日益严峻，欧美发达国家对我国进行电子元器件出口限制，同时技术状态和生产过程具有不可控性，长期供应和售后得不到保障，严重制约着国家科技和信息化发展水平。随着我国电子元器件产业体系不断发展和完善，国产元器件的研制生产和质量保障能力得到了快速提升，产品系列更加完善。但已经完成研制的元器件在型号的推广应用过程中仍存在“不好用”“不敢用”“用不好”等问题。主要原因是元器件的鉴定试验方法和技术与实际应用情况存在一定的差距同时元器件研制与鉴定过程中所提供的信息及数据不能充分的代表其功能、性能、环境适应性、质量可靠性，这就使得用户更加趋向于应用已有成功应用经历的进口“成熟”元器件，严重影响了国产电子元器件的发展。

因此，亟需对国产电子元器件开展通用质量特性应用验证，可以及时发现潜在的质量隐患和应用环境不适应等“不好用”问题，及早反馈给元器件研制单位进行改进完善，促进产品研制成熟；通过对元器件应用支持数据的充分获取和科学评价。

发明内容

本发明实施例提供一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置，用以实现对国产元器件开展通用质量特性应用验证，保证国产电子元器件在应用中的风险降至最低。

本发明实施例提供一种电子元器件通用质量特性验证方法，包括：

根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标，并对验证指标进行细化，以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系；

基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目；

为该验证项目确定对应的验证试验项目；

基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果。

在一些实施例中，设计的验证指标包括：可靠性指标、环境适应性指标以及保障性指标；

对验证指标进行细化包括：

为各验证指标设计对应的二级验证指标和三级验证指标，其中所述二级验证指标为验证项目类别，至少一个三级验证指标，所述三级验证指标包括具体的验证项目。

在一些实施例中，基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目包括：根据该电子元器件的元器件特点及应用需求确定验证项目。

在一些实施例中，为该验证项目确定对应的验证试验项目包括：

根据确定的多个验证项目建立验证试验项目逻辑关系，以验证工作效率和效益的最大化为目标，设计试验项目的串行、并行关系。

在一些实施例中，在该电子元器件为电连接器的情况下，基于所确定的验证试验项目执行试验验证，以获得验证结果包括：

进行基础级验证，包含结构分析、极限应力试验；

根据产品的后期使用状态进行板卡设计及产品组装，对组装后的板卡进行环境适应性、装联适应性验证，以确定的该电连接器的通用质量特性应用验证项目。

本申请实施例还提出一种电子元器件通用质量特性验证装置，包括处理器，其配置为：