[发明专利]一种电子元器件通用质量特性验证方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210515941.3 申请日: 2022-05-12
公开(公告)号: CN115049211A 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 李晓丹;田立冬;潘纯娣;王晶;肖保军;陈晓宇;谭丽明;包雷;吕梦琴 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十五研究所
主分类号: G06Q10/06 分类号: G06Q10/06;G06Q50/04
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 焉明涛
地址: 100083 北京市海*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电子元器件 通用 质量 特性 验证 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种电子元器件通用质量特性验证方法,其特征在于,包括:

根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标,并对验证指标进行细化,以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系;

基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目;

为该验证项目确定对应的验证试验项目;

基于所确定的验证试验项目执行试验验证,以获得验证结果。

2.如权利要求1所述的电子元器件通用质量特性验证方法,其特征在于,设计的验证指标包括:可靠性指标、环境适应性指标以及保障性指标;

对验证指标进行细化包括:

为各验证指标设计对应的二级验证指标和三级验证指标,其中所述二级验证指标为验证项目类别,至少一个三级验证指标,所述三级验证指标包括具体的验证项目。

3.如权利要求1所述的电子元器件通用质量特性验证方法,其特征在于,基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目包括:根据该电子元器件的元器件特点及应用需求确定验证项目。

4.如权利要求1所述的电子元器件通用质量特性验证方法,其特征在于,为该验证项目确定对应的验证试验项目包括:

根据确定的多个验证项目建立验证试验项目逻辑关系,以验证工作效率和效益的最大化为目标,设计试验项目的串行、并行关系。

5.如权利要求4所述的电子元器件通用质量特性验证方法,其特征在于,在该电子元器件为电连接器的情况下,基于所确定的验证试验项目执行试验验证,以获得验证结果包括:

进行基础级验证,包含结构分析、极限应力试验;

根据产品的后期使用状态进行板卡设计及产品组装,对组装后的板卡进行环境适应性、装联适应性验证,以确定的该电连接器的通用质量特性应用验证项目。

6.一种电子元器件通用质量特性验证装置,其特征在于,包括处理器,其配置为:

根据用户需求从不同角度设计对应的验证指标,并对验证指标进行细化,以形成该电子元器件的通用质量特性应用验证体系;

基于通用质量特性应用验证体系确定多个验证项目;

为该验证项目确定对应的验证试验项目;

基于所确定的验证试验项目执行试验验证,以获得验证结果。

7.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的方法的步骤。

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