[发明专利]显示器批量老化的测试系统有效

专利信息
申请号: 202210512175.5 申请日: 2022-05-12
公开(公告)号: CN114705942B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 张皓;彭永棒;马银芳;王鑫鑫 申请(专利权)人: 无锡美科微电子技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/04
代理公司: 成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310 代理人: 唐维虎
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 显示器 批量 老化 测试 系统
【说明书】:

本申请实施例提供的显示器批量老化的测试系统,涉及显示器测试技术领域。在显示器批量老化的测试系统中,控制单元通过地址位扩展单元与每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接;控制单元通过开关与复位单元与每个显示器老化测试单元中的的电流检测子单元连接;控制单元可以根据获取的每个显示器的老化电流通过控制数字电位器子单元调整显示器的老化电流,使显示器的老化电流维持在老化测试的要求范围内。相对于现有技术,可以在批量老化测试中根据每个显示器的不同测试情况进行相应的测试信号的调整,提高老化测试的自动化程度,并节省测试时间提高测试效率。

技术领域

本申请涉及显示器测试技术领域,具体而言,涉及一种显示器批量老化的测试系统。

背景技术

老化测试是显示器生产过程中必不可少的一步,也是显示器质量控制的一个重要环节。在老化后显示器的效能得到提升,并有助于后期使用的效能稳定。

在现有技术中,显示器老化测试一般是针对单个显示器进行单独测试,无法对多个显示器进行同步测试,即便进行多个显示器同步老化测试也难以根据每个显示器在老化测试中可能出现不同的测试状况,针对每个显示器进行单独控制。

发明内容

为了克服现有技术中的上述不足,本申请提供一种显示器批量老化的测试系统。

本申请实施例提供一种显示器批量老化的测试系统,所述测试系统包括:控制单元、地址位扩展单元、开关与复位单元及多个显示器老化测试单元;

每个显示器老化测试单元包括数字电位器子单元、电源配置子单元以及电流检测子单元,所述每个显示器老化测试单元用于对一个显示器进行老化测试,所述数字电位器子单元与所述电源配置子单元连接,所述数字电位器子单元通过调节电压输出档位控制所述电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号,所述电流检测子单元用于检测所述显示器的老化电流;

所述控制单元通过所述地址位扩展单元与所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接,所述控制单元通过所述地址位扩展单元控制所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位;

所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接,所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元通信,以获得所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流。

在一种可能的实现方式中,所述控制单元还用于将所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流与预先设定的老化电流范围进行比较,在存在目标显示器老化测试单元中的显示器的老化电流不在所述预先设定的老化电流范围时,控制所述目标显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位,以改变所述目标显示器老化测试单元中的电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号。

在一种可能的实现方式中,所述测试系统还包括接口单元;

所述接口单元包括USB接口子单元和接口转换子单元,所述接口单元用于连接上位机和所述控制单元,以实现所述上位机和控制单元之间的通信;

所述USB接口子单元经由所述接口转换子单元与所述控制单元连接,所述USB接口子单元用于接收所述上位机的控制指令,并为所述接口转换子单元提供工作电源;所述接口转换子单元用于将所述控制指令转换为所述控制单元能识别的串口控制信号,其中,所述控制指令包括对任意一个显示器老化测试单元中进行老化测试的显示器进行亮度调整的控制指令。

在一种可能的实现方式中,所述测试系统还包括电源供给单元;

所述电源供给单元包括相互连接的电源接口子单元和电源调整子单元,所述电源接口子单元用于连接外部电源,所述电源调整子单元用于调整电源电压;

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