[发明专利]显示器批量老化的测试系统有效
申请号: | 202210512175.5 | 申请日: | 2022-05-12 |
公开(公告)号: | CN114705942B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 张皓;彭永棒;马银芳;王鑫鑫 | 申请(专利权)人: | 无锡美科微电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R1/04 |
代理公司: | 成都极刻智慧知识产权代理事务所(普通合伙) 51310 | 代理人: | 唐维虎 |
地址: | 214000 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示器 批量 老化 测试 系统 | ||
1.一种显示器批量老化的测试系统,其特征在于,所述测试系统包括:控制单元、地址位扩展单元、开关与复位单元及多个显示器老化测试单元;
每个显示器老化测试单元包括数字电位器子单元、电源配置子单元以及电流检测子单元,所述每个显示器老化测试单元用于对一个显示器进行老化测试,所述数字电位器子单元与所述电源配置子单元连接,所述数字电位器子单元通过调节电压输出档位控制所述电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号,所述电流检测子单元用于检测所述显示器的老化电流;
所述控制单元通过所述地址位扩展单元与所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元连接,所述控制单元通过所述地址位扩展单元控制所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位;
所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接,所述控制单元通过所述开关与复位单元与所述每个显示器老化测试单元中的电流检测子单元通信,以获得所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流。
2.如权利要求1所述的显示器批量老化的测试系统,其特征在于,所述控制单元还用于将所述每个显示器老化测试单元中对应显示器的老化电流与预先设定的老化电流范围进行比较,在存在目标显示器老化测试单元中的显示器的老化电流不在所述预先设定的老化电流范围时,控制所述目标显示器老化测试单元中的数字电位器子单元的电压输出档位,以改变所述目标显示器老化测试单元中的电源配置子单元提供给所述显示器的电压信号。
3.如权利要求1所述的显示器批量老化的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括接口单元;
所述接口单元包括USB接口子单元和接口转换子单元,所述接口单元用于连接上位机和所述控制单元,以实现所述上位机和控制单元之间的通信;
所述USB接口子单元经由所述接口转换子单元与所述控制单元连接,所述USB接口子单元用于接收所述上位机的控制指令,并为所述接口转换子单元提供工作电源;所述接口转换子单元用于将所述控制指令转换为所述控制单元能识别的串口控制信号,其中,所述控制指令包括对任意一个显示器老化测试单元中进行老化测试的显示器进行亮度调整的控制指令。
4.如权利要求3所述的显示器批量老化的测试系统,其特征在于,所述测试系统还包括电源供给单元;
所述电源供给单元包括相互连接的电源接口子单元和电源调整子单元,所述电源接口子单元用于连接外部电源,所述电源调整子单元用于调整电源电压;
所述电源调整子单元分别与所述控制单元、所述地址位扩展单元、开关与复位单元以及所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元、电源配置子单元和电流检测子单元连接,并分别为所述控制单元、所述地址位扩展单元、开关与复位单元以及所述每个显示器老化测试单元中的数字电位器子单元、电源配置子单元和电流检测子单元提供工作电源。
5.如权利要求4所述的显示器批量老化的测试系统,其特征在于,所述地址位扩展单元的数量为多个,所述控制单元包括多组地址控制端口,每个所述地址位扩展单元包括一组第一地址端口和多组第二地址端口;
所述控制单元的每组地址控制端口与一对应的所述地址位扩展单元的第一地址端口连接,通过所述地址位扩展单元将一组地址端口扩展为多组第二地址端口,并将多个所述地址位扩展单元的第二地址端口分配给每个所述显示器老化测试单元中的数字电位器子单元,以使所述控制单元对每个所述显示器老化测试单元中的数字电位器子单元进行控制。
6.如权利要求5所述的显示器批量老化的测试系统,其特征在于,所述开关与复位单元的数量为多个,所述控制单元包括一组通信端口,每个所述开关与复位单元包括一组第一通信端口和多组第二通信端口;
所述控制单元的通信端口与所述开关与复位单元的第一通信端口连接,通过所述开关与复位单元转换为多组第二通信端口,每组第二通信端口与划分为同一组的显示器老化测试单元中的电流检测子单元连接。
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