[发明专利]透明件表面缺陷快速检测方法及装置

权利要求书

1.一种透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述透明件表面缺陷快速检测方法包括：

获取待检测透明件的表面图像；

根据所述表面图像生成待检测图像；

对所述待检测图像进行识别，得到待检测图像特征点集；

根据所述待检测图像特征点集与用作计量的标本特征点集数据库进行比对匹配，得到待检测图像特征点匹配结果；

根据所述待检测图像特征点匹配结果确定所述待检测透明件对应的缺陷检测结果。

2.如权利要求1所述的透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据所述待检测图像特征点集与标本特征点集数据库进行比对匹配之前，还包括：

采集具有不同缺陷等级的透明件表面缺陷图像；

根据所述透明件表面缺陷图像创建用作计量的标本特征点集数据库；

根据使用需求对所述标本特征点集数据库进行适时更新。

3.如权利要求2所述的透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据所述透明件表面缺陷图像创建用作计量的标本特征点集数据库，包括：

根据所述透明件表面缺陷图像生成多个包含标签的标本图像；

分别对多个标本图像依次进行特征点检测和特征点描述，得到对应的多个标本图像特征点集；

根据多个标本图像特征点集创建用作计量的标本特征点集数据库。

4.如权利要求1所述的透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据所述待检测图像特征点集与用作计量的标本特征点集数据库进行比对匹配，得到待检测图像特征点匹配结果，包括：

基于所述待检测图像特征点集进行哈希编码，得到待检测哈希编码以及待检测子串哈希编码；

根据所述标本特征点集数据库确定对应的标本哈希散列表；

根据所述待检测哈希编码以及所述待检测子串哈希编码与所述标本哈希散列表进行比对匹配，得到待检测图像特征点匹配结果。

5.如权利要求4所述的透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述根据所述标本特征点集数据库确定对应的标本哈希散列表，包括：

基于所述标本特征点集数据库中的多个标本特征点集分别进行哈希编码，得到对应的标本哈希编码以及标本子串哈希编码；

根据所述标本哈希编码以及所述标本子串哈希编码构建哈希散列表。

6.如权利要求4所述的透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述待检测哈希编码以及所述待检测子串哈希编码与所述标本哈希散列表进行比对匹配，得到待检测图像特征点匹配结果，包括：

根据所述待检测哈希编码以及所述待检测子串哈希编码在所述标本哈希散列表中查找对应的目标哈希编码和目标子串哈希编码；

获取与所述目标哈希编码和所述目标子串哈希编码对应的目标特征；

将所述目标特征作为与所述待检测图像特征点集对应的相似特征；

根据所述相似特征确定待检测图像特征点匹配结果。

7.如权利要求1至6中任一项所述的透明件表面缺陷快速检测方法，其特征在于，所述对所述待检测图像进行识别，得到待检测图像特征点集，包括：

对所述待检测图像进行特征点检测，得到待检测图像特征点检测结果；

基于所述待检测图像特征点检测结果进行特征点描述，得到待检测图像特征点描述结果；

根据所述待检测图像特征点描述结果生成与所述待检测图像对应的待检测图像特征点集。