[发明专利]一种基于X射线荧光光谱分析的水产品质量检测方法

权利要求书

1.一种基于X射线荧光光谱分析的水产品质量检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S100，制备待测水产品组织压片和不同硒含量的标准组织压片；

S200，采用X射线荧光光谱仪测定待测水产品组织压片和不同硒含量的标准组织压片，分别得到待测组织能谱和标准组织能谱组；

S300，对待测组织能谱和标准组织能谱组的基体效应进行校正，得到校正组织能谱和校正标准能谱组；

S400，由校正标准能谱组计算得到谱线趋变序列，并由校正标准能谱组建立标准能谱含量关系式；

S500，由谱线趋变序列对校正组织能谱进行复合谱解析，得到解析组织能谱强度；

S600，根据标准能谱含量关系式对解析组织能谱强度进行定量分析，获得待测水产品的硒含量；判断其硒含量是否在富硒含量范围标准内，是则该水产品质量达标，否则该水产品质量不达标；

其中，在S400中，由校正标准能谱组计算得到谱线趋变序列，并由校正标准能谱组建立标准能谱含量关系式的方法为：

S401，设校正标准能谱组表示为Std(i, j)，i∈[1,n]，j∈[E1,E2]，i为校正标准能谱组序号，n为校正标准能谱组中的校正标准能谱总数，j为X射线的能量值，单位为keV，其取值范围为X射线荧光光谱对硒元素的感兴趣能谱区，其中感兴趣能谱区是能谱下限为E1，能谱上限为E2的取值区域；设校正标准能谱组的能量间隔为e，即在感兴趣能谱区中采集共有|E2-E1| / e个能量值；其中Std(1, j)为在含量范围内对应硒元素含量最大的校正标准能谱，Std(n, j)为在硒含量范围内对应硒元素含量最小的校正标准能谱，Std(i, j)随着i值增加其对应的硒元素含量以含量梯度递减；

S402，遍历j值范围计算校正标准能谱组的待测元素特征谱，其计算公式为；

；

其中，Deta(j)为待测元素特征谱在X射线能量为j值时的计数率；Std(i, j)为第i个校正标准能谱在j值时的计数率，计数率的单位为cps, 在j值取值范围之内的各个j值对应的计数率构成待测元素特征谱；

并查找待测元素特征谱中的最大值对应的能量值记作第一能谱峰，表示为Kα，查找待测元素特征谱中的第二大值对应的能量值记作第二能谱峰，表示为Kβ；

S403，获得校正标准能谱组中第一能谱峰和第二能谱峰对应的计数率，分别记为peak1(i)和peak2(i)，i∈[1,n]；其中peak1(i)为第i个校正标准能谱的第一能谱峰对应的计数率，peak2(i)为第i个校正标准能谱的第二能谱峰对应的计数率；分别计算以peak1(i)和peak2(i)为峰值的正态分布在对应第i个校正标准能谱中的分布面积总和记为能谱强度；将其能谱强度与第i个校正标准能谱对应的硒元素含量进行线性拟合，得到能谱强度关于硒元素含量的线性函数记作标准能谱含量关系式；

S404，由校正标准能谱组和待测元素特征谱遍历j值范围计算，得到谱线趋变序列；

；

其中，Trend(j)表示为谱线趋变序列在X射线能量为j值时的趋向率，将对应各个j值表示为谱线趋变序列中的各个元素。