[发明专利]一种机床定位精度偏差的校正方法有效
申请号: | 202210481777.9 | 申请日: | 2022-05-05 |
公开(公告)号: | CN114654303B | 公开(公告)日: | 2023-02-21 |
发明(设计)人: | 赵彬;陈鹏飞;阮少华;张世贵;熊吉健;周小文;肖洪;宗川宏 | 申请(专利权)人: | 中国航发航空科技股份有限公司 |
主分类号: | B23Q17/22 | 分类号: | B23Q17/22 |
代理公司: | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人: | 秦亚群 |
地址: | 610503 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 机床 定位 精度 偏差 校正 方法 | ||
1.一种机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
S101、在零件上设置校正基准孔;
S102、将机床转动θ角度,打表检测所述校正基准孔位置,记为所述校正基准孔坐标Y/X实际值,
S103、根据机床转动角度θ和所述校正基准孔的极半径R,计算得到所述校正基准孔坐标Y/X理论值;
S104、通过所述校正基准孔坐标Y/X实际值和所述校正基准孔坐标Y/X理论值,计算得到机床加工中心相对理论中心的坐标偏差值Y2/X2,该坐标偏差值Y2/X2即为机床当前的定位精度偏差值;
S105、由所述机床当前的定位精度偏差值得到校正值,在坐标系或加工程序中输入所述校正值。
2.根据权利要求1所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,S103中,所述校正基准孔坐标Y/X理论值计算方法如下:
Y理论=R*COS(θ);X理论=R*SIN(θ)。
3.根据权利要求1所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,S104中,所述的机床加工中心相对理论中心的坐标偏差值Y2/X2通过公式1和公式2计算得到;
公式1:Y2=(Y差-X差*TAN(90-θ/2))/2;
公式2:X2=(X差+Y差*TAN(90-θ/2))/2;
其中,Y差=Y理论-Y实际,X差=X理论-X实际。
4.根据权利要求1所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,在步骤S102之前还包括S1011、在机床0度时,打表检测所述校正基准孔位置度,验证机床重复精度。
5.根据权利要求1所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,在步骤S105之后还包括S106、将步骤S102-S105重复操作1-3次,对所述校正值进行验证。
6.根据权利要求1所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,在零件上设置校正基准孔时,可在零件任意位置钻孔作为校正基准孔,或设置带孔基准块。
7.根据权利要求6所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,所述校正基准孔为镗孔或者铣孔。
8.根据权利要求1所述的机床定位精度偏差的校正方法,其特征在于,S103中,将机床转动θ角度时,向坐标系第一象限旋转是为正值,向第四象限旋转为负值。
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