[发明专利]集成电路的逻辑综合方法、装置、电子设备、介质及芯片在审
| 申请号: | 202210474209.6 | 申请日: | 2022-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN114912387A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
| 发明(设计)人: | 朱鸣 | 申请(专利权)人: | 上海阵量智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F30/327 | 分类号: | G06F30/327 |
| 代理公司: | 北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889 | 代理人: | 袁忠林 |
| 地址: | 200235 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 集成电路 逻辑 综合 方法 装置 电子设备 介质 芯片 | ||
1.一种集成电路的逻辑综合方法,其特征在于,包括:
确定集成电路的待综合模块中的至少一个关键子模块;其中,所述至少一个关键子模块为所述待综合模块的多个子模块中不满足预设物理综合要求的子模块;
对每个所述关键子模块进行第一逻辑综合处理,得到每个所述关键子模块的综合子网表;
基于所述综合子网表和第一子模块的代码文件,对所述待综合模块进行第二逻辑综合处理,并基于所述第二逻辑综合处理的逻辑综合结果确定所述待综合模块的目标综合网表;其中,所述第一子模块为所述多个子模块中除所述关键子模块之外的其他模块。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述待综合模块中的至少一个关键子模块,包括:
确定所述待综合模块的模块筛选参数;其中,所述模块筛选参数为用于指示子模块的模块面积和/或子模块的实时时序的参数;
在所述待综合模块中确定与所述模块筛选参数相匹配的子模块为所述至少一个关键子模块。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述待综合模块的数量为多个;所述确定所述待综合模块的模块筛选参数,包括:
确定每个所述待综合模块的模块属性信息;其中,所述模块属性信息包括以下至少之一:模块功能、模块面积、在所述集成电路中的模块位置;
在多个预设筛选参数中,确定与所述模块属性信息相匹配的预设筛选参数为该待综合模块的模块筛选参数。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其特征在于,所述对每个所述关键子模块进行第一逻辑综合处理,得到每个所述关键子模块的综合子网表,包括:
获取物理约束参数;其中,所述物理约束参数包括以下至少之一:时钟不确定性参数、输入输出端口约束参数;
基于所述物理约束参数对每个所述关键子模块进行所述第一逻辑综合处理,得到每个所述关键子模块的综合子网表。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二逻辑综合处理的逻辑综合结果确定所述待综合模块的目标综合网表,包括:
在基于所述逻辑综合结果确定所述待综合模块不满足预设时序要求的情况下,更新至少部分所述关键子模块的所述物理约束参数,得到更新后物理约束参数,并返回执行基于所述物理约束参数对每个所述关键子模块进行所述第一逻辑综合处理的步骤。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二逻辑综合处理的逻辑综合结果确定所述待综合模块的目标综合网表,包括:
在基于所述逻辑综合结果确定所述待综合模块不满足预设时序要求的情况下,在所述待综合模块中重新确定不满足所述预设物理综合要求的子模块为所述至少一个关键子模块,并返回执行对每个所述关键子模块进行第一逻辑综合处理,得到每个所述关键子模块的综合子网表的步骤,直至所述待综合模块满足预设时序要求。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述在所述待综合模块中重新确定不满足所述预设物理综合要求的子模块为所述至少一个关键子模块,包括:
更新所述待综合模块的模块筛选参数,得到新模块筛选参数;所述新模块筛选参数为用于指示子模块的模块面积和/或子模块的实时时序的参数;
基于所述新模块筛选参数在所述待综合模块中重新确定不满足所述预设物理综合要求的子模块为所述至少一个关键子模块。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法,其特征在于,所述基于所述第二逻辑综合处理的逻辑综合结果确定所述待综合模块的目标综合网表,包括:
在基于所述逻辑综合结果确定所述待综合模块不满足预设时序要求的情况下,调整所述待综合模块中至少部分子模块在所述集成电路中的位置信息,并返回执行基于所述综合子网表和所述多个子模块中的第一子模块的代码文件,对所述待综合模块进行第二逻辑综合处理的步骤,直至所述第二逻辑综合处理的逻辑综合结果满足预设时序要求。
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