[发明专利]一种APD-TIA TO老化系统

说明书

一种APD‑TIA TO老化系统，涉及APD‑TIA生产技术领域。本发明是为了解决现有的一个老化设备只能给VBR相同，且是某一定值的APD‑TIA TO老化，且老化电流不精确的问题。本发明包括电流取样电路、比较电路、恒流输出管电路和TO，所述电流取样电路的电压信号的输出端与比较电路的电压信号输入端连接，比较电路的电压信号输出端与恒流输出管电路的电压信号输入端连接，恒流输出管电路的电流信号输出端与电流取样电路的电流信号输入端连接，电流取样电路的电流信号输出端与TO的电流信号输入端连接，TO的电流信号输出端与模拟地连接。

技术领域

本发明属于APD-TIA生产技术领域，特别涉及涉及APD-TIA老化用的一种恒流源系统。

背景技术

在光通信或光探测，以及激光加工领域，用到LD(半导体激光器)以及其接收或检测装置PT(激光检测器统称)。而LD或PT最常用的一种封装形式就是TO(TransistorOutline)封装。PT TO常规的有两种，分别是：PIN-TIA与APD-TIA。在生产封装完成后还要经过老化工序，老化的过程就是在一定温度下，给PT TO施加一定的电压与电流，连续工作一段时间。

本发明主要针对APD-TIA TO的老化，APD-TIA老化常用恒压源，这对器件的一致性要求很高，因为生产一次老化的数量很多，使用同一个恒压源供电加限流电阻限流的方式。这种方式很大的缺陷。APD-TIA的特性是：老化电压比较高(最高60V,相对其他光器件3-5V的老化电压)；老化电压的范围宽(APD的VBR范围：20-60V)；老化电流比较小(大部分为微安级)；老化电流的范围大(100uA-2mA)；一般是APD与TIA是共阴极，所以老化系统需要共阴极。常用一个恒压源供电加限流电阻限流的APD-TIA TO老化系统有以下缺点：每个产品的老化电流大小不一致；由于限流电阻是不变的，而每个APD的VBR是不同的所以同一系统中产品老化电流不同的；不能适用不同老化电压的产品APD-TIA TO老化；不能适用不同老化电流的产品APD-TIA TO老化；而现有的一个老化设备只能给VBR相同，且是某一定值的APD-TIA TO老化，且老化电流不精确的。

发明内容

本发明是为了解决现有的一个老化设备只能给VBR相同，且是某一定值的APD-TIATO老化，且老化电流不精确的问题。本发明提出了一种APD-TIA TO老化系统。

本发明的技术方案：一种APD-TIA TO老化系统，包括：电流取样电路、比较电路、恒流输出管电路和TO，所述电流取样电路的电压信号的输出端与比较电路的电压信号输入端连接，比较电路的电压信号输出端与恒流输出管电路的电压信号输入端连接，恒流输出管电路的电流信号输出端与电流取样电路的电流信号输入端连接，电流取样电路的电流信号输出端与TO的电流信号输入端连接，TO的电流信号输出端与模拟地连接。

作为优选的是，所述电流取样电路包括：运算放大器OPA、采样电阻RS1和T0D1，所述运算放大器OPA的11号和4号引脚分别与电路的供电电压VCC和模拟地连接，所述运算放大器OPA的同相输入端与采样电阻RS1的一端连接，所述运算放大器OPA的反相输入端与采样电阻RS1的另一端连接。

作为优选的是，所述比较电路包括：运算放大器OPB、电阻R2、电阻R3、电容C2和三极管Q2，所述运算放大器OPB的反向输入端与运算放大器OPA的输出端连接，所述运算放大器OPB的11号和4号引脚分别与电路的供电电压VCC和模拟地连接，所述运算放大器OPB的同相输入端与基准电压VREF连接，所述运算放大器OPB的输出端与电阻R3的一端连接，电阻R3的另一端分别与电容C2的一端和三极管Q2的基极连接，电容C2的另一端与模拟地连接，三极管Q2的集电极与发射极分别与电阻R2的一端和模拟地连接。