[发明专利]一种APD-TIA TO老化系统

权利要求书

1.一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，包括：电流取样电路、比较电路、恒流输出管电路和TO，所述电流取样电路的电压信号的输出端与比较电路的电压信号输入端连接，比较电路的电压信号输出端与恒流输出管电路的电压信号输入端连接，恒流输出管电路的电流信号输出端与电流取样电路的电流信号输入端连接，电流取样电路的电流信号输出端与TO的电流信号输入端连接，TO的电流信号输出端与模拟地连接。

2.根据权利要求1所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述电流取样电路包括：运算放大器OPA、采样电阻RS1和T0D1，所述运算放大器OPA的11号和4号引脚分别与电路的供电电压VCC和模拟地连接，所述运算放大器OPA的同相输入端与采样电阻RS1的一端连接，所述运算放大器OPA的反相输入端与采样电阻RS1的另一端连接。

3.根据权利要求2所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述比较电路包括：运算放大器OPB、电阻R2、电阻R3、电容C2和三极管Q2，所述运算放大器OPB的反向输入端与运算放大器OPA的输出端连接，所述运算放大器OPB的11号和4号引脚分别与电路的供电电压VCC和模拟地连接，所述运算放大器OPB的同相输入端与基准电压VREF连接，所述运算放大器OPB的输出端与电阻R3的一端连接，电阻R3的另一端分别与电容C2的一端和三极管Q2的基极连接，电容C2的另一端与模拟地连接，三极管Q2的集电极与发射极分别与电阻R2的一端和模拟地连接。

4.根据权利要求3所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述恒流输出管电路包括：电阻R1、电阻R4、电容C1和三极管Q1，所述阻R2的另一端分别与电阻R1的一端和电阻R4的一端连接，电阻R1的另一端分别与电容C1的一端和供电电压V70连接，电阻R4的另一端分别与电容C1的另一端和三极管Q1的基极连接，三极管Q1的发射极和集电极分别与供电电压V70和采样电阻RS1的一端连接。

5.根据权利要求4所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述三极管Q1为PNP管，其VCEO、VCB0都小于-70。

6.根据权利要求3所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述三极管Q2为NPN管，其VCEO、VCB0都大于-70。

7.根据权利要求2所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述采样电阻RS1精度为0.1％，阻值12.1Ω。

8.根据权利要求3所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述运算放大器OPB的型号为OP07，其同向输入端与反向输入端输入失调电压的最大值值为25uV。

9.根据权利要求2所述的一种APD-TIA TO老化系统，其特征在于，所述运算放大器OPA的型号为MAX40201H，其同向输入端与反向输入端的共模输入电压大于70V,其输入偏置电流、失调电流、和漏电流都不超过0.2uA，其输入失调电压不超过0.2uV，其自带输出放大倍数是100倍。