[发明专利]飞针测试方法、飞针测试装置、计算机设备、存储介质

说明书

本申请实施例提供一种飞针测试方法、飞针测试装置、计算机设备、存储介质，属于飞针测试技术领域，所述方法包括：获取待测测试项；获取策略文件；根据预设的学习模型对待测测试项进行测试，得到第一测试参数；提取策略文件中待测测试项的理论测试参数；若第一测试参数小于理论测试参数，则根据预设的学习模型对待测测试项进行预设次数的重复测试，得到多个测试结果；若多个测试结果均与第一测试参数相等，将第一测试参数作为待测测试项的测试基准值。根据学习模型的学习功能使待测测试项能够得到测试基准值，能够快速设置测试参数，不需要人工手动调试测试程序设置测试参数，提高了飞针测试的效率。

技术领域

本发明涉及飞针测试技术领域，尤其涉及一种飞针测试方法、飞针测试装置、计算机设备、存储介质。

背景技术

相关技术中，对飞针测试机载板上的PCB板进行测试时，需要人工手动调试测试程序设置PCB板的测试参数，每测试一片PCB板，都需要对该PCB板重新设置测试参数，调试测试程序的时间加长，严重影响了飞针测试机测试的效率。

发明内容

本申请实施例的主要目的在于提出一种飞针测试方法、飞针测试装置、计算机设备、存储介质，能够通过学习功能快速设置测试参数，无需人工手动调试测试程序，提高了飞针测试的效率。

为实现上述目的，本申请实施例的第一方面提出了一种飞针测试方法，所述方法包括：

获取待测测试项；

获取策略文件；

根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试，得到第一测试参数；

提取所述策略文件中所述待测测试项的理论测试参数；

若所述第一测试参数小于所述理论测试参数，则根据预设的学习模型对所述待测测试项进行预设次数的重复测试，得到多个测试结果；

若多个所述测试结果均与所述第一测试参数相等，将所述第一测试参数作为所述待测测试项的测试基准值。

在一些实施例，所述根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试，得到第一测试参数，包括：

根据预设的分类规则对所述待测测试项进行分类，得到测试集合，所述测试集合为同一类型的多个待测测试项；

根据预设的学习模型对所述测试集合进行测试，得到第一测试参数。

在一些实施例，所述根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试，得到第一测试参数，包括：

获取相机拍摄的所述待测测试项的飞针位置信息；

根据所述飞针位置信息计算所述待测测试项的飞针测点分布范围；

根据所述飞针测点分布范围得到所述待测测试项的测试顺序；

根据预设的学习模型和所述测试顺序对所述待测测试项进行测试，得到第一测试参数。

在一些实施例，所述获取相机拍摄的所述待测测试项的飞针位置信息，包括：

获取所述待测测试项对应的扫描图像；

获取所述待测测试项对应的测试图像；

若所述扫描图像和所述测试图像不匹配，根据所述扫描图像得到基板图像；

根据预设的拼板旋转角度将所述基板图像进行旋转得到目标图像；

响应于对所述目标图像中测点的点击操作，控制所述相机对所述测点进行拍摄，以获取所述待测测试项的飞针位置信息。

在一些实施例，所述获取待测测试项，包括：

获取PCB板的第一目标区域信息；