[发明专利]飞针测试方法、飞针测试装置、计算机设备、存储介质在审

专利信息
申请号: 202210465846.7 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114910778A 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 黄亮;林湘妙;汪兴友;邵勇锋 申请(专利权)人: 深圳橙子自动化有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 洪铭福
地址: 518000 广东省深圳市宝*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【权利要求书】:

1.飞针测试方法,其特征在于,所述方法包括:

获取待测测试项;

获取策略文件;

根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数;

提取所述策略文件中所述待测测试项的理论测试参数;

若所述第一测试参数小于所述理论测试参数,则根据预设的学习模型对所述待测测试项进行预设次数的重复测试,得到多个测试结果;

若多个所述测试结果均与所述第一测试参数相等,将所述第一测试参数作为所述待测测试项的测试基准值。

2.根据权利要求1所述的飞针测试方法,其特征在于,所述根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数,包括:

根据预设的分类规则对所述待测测试项进行分类,得到测试集合,所述测试集合为同一类型的多个待测测试项;

根据预设的学习模型对所述测试集合进行测试,得到第一测试参数。

3.根据权利要求1所述的飞针测试方法,其特征在于,所述根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数,包括:

获取相机拍摄的所述待测测试项的飞针位置信息;

根据所述飞针位置信息计算所述待测测试项的飞针测点分布范围;

根据所述飞针测点分布范围得到所述待测测试项的测试顺序;

根据预设的学习模型和所述测试顺序对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数。

4.根据权利要求3所述的飞针测试方法,其特征在于,所述获取相机拍摄的所述待测测试项的飞针位置信息,包括:

获取所述待测测试项对应的扫描图像;

获取所述待测测试项对应的测试图像;

若所述扫描图像和所述测试图像不匹配,根据所述扫描图像得到基板图像;

根据预设的拼板旋转角度将所述基板图像进行旋转得到目标图像;

响应于对所述目标图像中测点的点击操作,控制所述相机对所述测点进行拍摄,以获取所述待测测试项的飞针位置信息。

5.根据权利要求1所述的飞针测试方法,其特征在于,所述获取待测测试项,包括:

获取PCB板的第一目标区域信息;

根据所述第一目标区域信息对所述PCB板进行扫码操作,得到标识信息;

根据所述标识信息获取待测测试项。

6.根据权利要求1至5任一项所述的飞针测试方法,其特征在于,所述方法还包括:

根据视觉补偿算法获取模板;

根据所述模板得到所述待测测试项的标记坐标;

根据所述标记坐标对所述待测测试项的原点坐标进行校正。

7.根据权利要求1至5任一项所述的飞针测试方法,其特征在于,所述方法还包括:

获取所述待测测试项的第二目标区域信息;

根据所述第二目标区域信息将所述待测测试项对应的PCB板提升预设的距离。

8.飞针测试装置,其特征在于,所述装置包括:

第一获取模块,用于获取待测测试项;

第二获取模块,用于获取策略文件;

第一测试模块,用于根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数;

提取模块,用于提取所述策略文件中所述待测测试项的理论测试参数;

第二测试模块,用于若所述第一测试参数小于所述理论测试参数,则根据预设的学习模型对所述待测测试项进行预设次数的重复测试,得到多个测试结果;

第三测试模块,用于若多个所述测试结果均与所述第一测试参数相等,将所述第一测试参数作为所述待测测试项的测试基准值。

9.计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器和处理器,其中,所述存储器中存储有程序,所述程序被所述处理器执行时所述处理器用于执行:

如权利要求1至7中任一项所述的方法。

10.存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,在所述计算机程序被计算机执行时,所述计算机用于执行:

如权利要求1至7中任一项所述的方法。

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