[发明专利]飞针测试方法、飞针测试装置、计算机设备、存储介质在审
| 申请号: | 202210465846.7 | 申请日: | 2022-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN114910778A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
| 发明(设计)人: | 黄亮;林湘妙;汪兴友;邵勇锋 | 申请(专利权)人: | 深圳橙子自动化有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 洪铭福 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
1.飞针测试方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待测测试项;
获取策略文件;
根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数;
提取所述策略文件中所述待测测试项的理论测试参数;
若所述第一测试参数小于所述理论测试参数,则根据预设的学习模型对所述待测测试项进行预设次数的重复测试,得到多个测试结果;
若多个所述测试结果均与所述第一测试参数相等,将所述第一测试参数作为所述待测测试项的测试基准值。
2.根据权利要求1所述的飞针测试方法,其特征在于,所述根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数,包括:
根据预设的分类规则对所述待测测试项进行分类,得到测试集合,所述测试集合为同一类型的多个待测测试项;
根据预设的学习模型对所述测试集合进行测试,得到第一测试参数。
3.根据权利要求1所述的飞针测试方法,其特征在于,所述根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数,包括:
获取相机拍摄的所述待测测试项的飞针位置信息;
根据所述飞针位置信息计算所述待测测试项的飞针测点分布范围;
根据所述飞针测点分布范围得到所述待测测试项的测试顺序;
根据预设的学习模型和所述测试顺序对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数。
4.根据权利要求3所述的飞针测试方法,其特征在于,所述获取相机拍摄的所述待测测试项的飞针位置信息,包括:
获取所述待测测试项对应的扫描图像;
获取所述待测测试项对应的测试图像;
若所述扫描图像和所述测试图像不匹配,根据所述扫描图像得到基板图像;
根据预设的拼板旋转角度将所述基板图像进行旋转得到目标图像;
响应于对所述目标图像中测点的点击操作,控制所述相机对所述测点进行拍摄,以获取所述待测测试项的飞针位置信息。
5.根据权利要求1所述的飞针测试方法,其特征在于,所述获取待测测试项,包括:
获取PCB板的第一目标区域信息;
根据所述第一目标区域信息对所述PCB板进行扫码操作,得到标识信息;
根据所述标识信息获取待测测试项。
6.根据权利要求1至5任一项所述的飞针测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据视觉补偿算法获取模板;
根据所述模板得到所述待测测试项的标记坐标;
根据所述标记坐标对所述待测测试项的原点坐标进行校正。
7.根据权利要求1至5任一项所述的飞针测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
获取所述待测测试项的第二目标区域信息;
根据所述第二目标区域信息将所述待测测试项对应的PCB板提升预设的距离。
8.飞针测试装置,其特征在于,所述装置包括:
第一获取模块,用于获取待测测试项;
第二获取模块,用于获取策略文件;
第一测试模块,用于根据预设的学习模型对所述待测测试项进行测试,得到第一测试参数;
提取模块,用于提取所述策略文件中所述待测测试项的理论测试参数;
第二测试模块,用于若所述第一测试参数小于所述理论测试参数,则根据预设的学习模型对所述待测测试项进行预设次数的重复测试,得到多个测试结果;
第三测试模块,用于若多个所述测试结果均与所述第一测试参数相等,将所述第一测试参数作为所述待测测试项的测试基准值。
9.计算机设备,其特征在于,所述计算机设备包括存储器和处理器,其中,所述存储器中存储有程序,所述程序被所述处理器执行时所述处理器用于执行:
如权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.存储介质,所述存储介质为计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,在所述计算机程序被计算机执行时,所述计算机用于执行:
如权利要求1至7中任一项所述的方法。
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