[发明专利]一种降低电磁辐射的方法及其装置

说明书

本申请公开一种降低电磁辐射的方法及其装置，涉及电磁兼容技术领域。该方法包括：获取漏液检测线承受的电场强度；根据电场强度和规定阈值确定电磁辐射源的种类；当CPU为电磁辐射源时，确定采用双条漏液检测机制或采用导电布包裹漏液检测线进行屏蔽处理；双条漏液检测机制为将第一条漏液检测线设置于机箱内部，将第二条漏液检测线设置于机箱外部，用于检测机箱内部和外部的漏液情况。由于电磁辐射源种类不同，降低其产生电磁辐射的方式也不同。当CPU为电磁辐射源时，确定采用双条漏液检测机制或采用导电布包裹漏液检测线进行屏蔽处理，这样的处理方法能够实现降低电磁辐射源的电磁辐射，以避免对信息技术类设备之间的数据传输产生影响。

技术领域

本申请涉及电磁兼容技术领域，特别是涉及一种降低电磁辐射的方法及其装置。

背景技术

随着信息技术类设备(例如：服务器产品及电脑类产品)向高速、高灵敏度、高集成化、高稳定性的方向逐步发展，对电磁兼容的要求也越来越苛刻。因此，应用于信息技术类设备的互连装置的电磁辐射问题日益受到重视。电磁辐射不仅影响信息技术类设备的工作，还干扰信息技术类设备周围的其他器件。电磁兼容问题是设计前期重要的考虑因素。

现有的信息技术类设备在使用液冷系统为发热部件进行散热时，为了检测冷媒(制冷液)的泄露，会在中央处理器(Central Processing Unit，CPU)的液冷板以及液冷管的制冷液的回流通路上缠附漏液检测线。当制冷液泄露时，漏液检测线会进行检测，并将漏液信号反馈给BMC。CPU在工作过程中的电磁噪声非常强，使得CPU成为一个电磁辐射源。而设置于液冷板和液冷管上的漏液检测线会耦合CPU的电磁噪声，此时漏液检测线会成为辐射天线对外产生辐射。这样的电磁辐射会对信息技术类设备之间的数据传输产生影响

鉴于上述存在的问题，寻求如何降低电磁辐射是本领域技术人员竭力解决的问题。

发明内容

本申请的目的是提供一种降低电磁辐射的方法及其装置，用于降低漏液检测线成为辐射天线时对外产生的电磁辐射。

为解决上述技术问题，本申请提供一种降低电磁辐射的方法，包括：

获取漏液检测线承受的电场强度；

根据电场强度和规定阈值确定电磁辐射源的种类；

当CPU为电磁辐射源时，确定采用双条漏液检测机制或采用导电布包裹漏液检测线进行屏蔽处理；

其中，双条漏液检测机制为将第一条漏液检测线设置于机箱内部，用于检测机箱内部的漏液情况，将第二条漏液检测线设置于机箱外部，用于检测机箱外部的漏液情况。

优选地，根据电场强度和规定阈值确定电磁辐射源的种类包括：

判断电场强度是否超出规定阈值；

若是，则按照预设距离调整漏液检测线与CPU的距离；预设距离大于漏液检测线与CPU的原始距离；

判断按照预设距离调整后的漏液检测线承受的当前电场强度是否超出规定阈值；

若是，则确定电磁辐射源为CPU。

优选地，采用导电布包裹第二条漏液检测线进行屏蔽处理。

优选地，采用导电布包裹第二条漏液检测线进行屏蔽处理包括：

根据导电布的吸收损耗确定导电布的厚度。

优选地，导电布包裹第二条漏液检测线的方式为螺旋式缠附。

优选地，导电布的宽度最大值为10cm，宽度最小值为5cm。

优选地，导电布的缠附重合面宽度最大值为3mm，缠附重合面宽度最小值为2mm。

优选地，导电布的厚度最大值为0.2mm，厚度最小值为0.15mm。