[发明专利]一种降低电磁辐射的方法及其装置在审
| 申请号： | 202210446392.9 | 申请日： | 2022-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN114980712A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 崔杰;鲍乐梅 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | H05K9/00 | 分类号： | H05K9/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 鲁梅 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 降低 电磁辐射 方法 及其 装置 | ||
1.一种降低电磁辐射的方法，其特征在于，包括：
获取漏液检测线承受的电场强度；
根据所述电场强度和规定阈值确定电磁辐射源的种类；
当CPU为所述电磁辐射源时，确定采用双条漏液检测机制或采用导电布包裹所述漏液检测线进行屏蔽处理；
其中，所述双条漏液检测机制为将第一条所述漏液检测线设置于机箱内部，用于检测所述机箱内部的漏液情况，将第二条所述漏液检测线设置于所述机箱外部，用于检测所述机箱外部的漏液情况。
2.根据权利要求1所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述根据所述电场强度和规定阈值确定电磁辐射源的种类包括：
判断所述电场强度是否超出所述规定阈值；
若是，则按照预设距离调整所述漏液检测线与所述CPU的距离；所述预设距离大于所述漏液检测线与所述CPU的原始距离；
判断按照所述预设距离调整后的所述漏液检测线承受的当前电场强度是否超出所述规定阈值；
若是，则确定所述电磁辐射源为所述CPU。
3.根据权利要求1所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，采用导电布包裹第二条所述漏液检测线进行屏蔽处理。
4.根据权利要求3所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述采用导电布包裹第二条所述漏液检测线进行屏蔽处理包括：
根据所述导电布的吸收损耗确定所述导电布的厚度。
5.根据权利要求3所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述导电布包裹第二条所述漏液检测线的方式为螺旋式缠附。
6.根据权利要求4所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述导电布的宽度最大值为10cm，宽度最小值为5cm。
7.根据权利要求4所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述导电布的缠附重合面宽度最大值为3mm，缠附重合面宽度最小值为2mm。
8.根据权利要求4所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述导电布的厚度最大值为0.2mm，厚度最小值为0.15mm。
9.根据权利要求2所述的降低电磁辐射的方法，其特征在于，所述预设距离为15cm。
10.一种降低电磁辐射的装置，其特征在于，应用于权利要求1至9任意一项所述的降低电磁辐射的方法，包括：
获取模块，用于获取漏液检测线承受的电场强度；
第一确定模块，用于根据所述电场强度和规定阈值确定电磁辐射源的种类；
第二确定模块，用于当CPU为所述电磁辐射源时，确定采用双条漏液检测机制或采用导电布包裹所述漏液检测线进行屏蔽处理。
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