[发明专利]一种注塑件表面缺陷识别方法

说明书

本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种注塑件表面缺陷识别方法。该方法基于注塑件表面缺陷相较于注塑件表面纹理所特有的结构特征，对经由图像识别电子设备所识别得到的注塑件表面图像进行数据获取，获取注塑件表面的数据，进而对获取的数据进行处理分析，该方法的侧重点是对获取数据后的数据处理方法进行改进，额外在数据处理中引入了纹理主方向差异度以及纹理方向距离。本发明提供的该方法经过对数据处理方法的改进，解决了现有技术无法准确确定注塑件表面缺陷的技术问题，提高了注塑件表面缺陷的识别效率及准确度，可将其集成于生产领域的人工智能系统，作为人工智能优化操作系统、人工智能中间件等，用于计算机视觉软件开发。

技术领域

本发明涉及数据处理技术领域，具体涉及一种注塑件表面缺陷识别方法。

背景技术

注塑件在加工成型的过程中，由于各个阶段中工艺参数的设置滞后性以及生产状态的波动性等原因，会不可避免地导致注塑件最终成型后的表面存在一些外观上的缺陷，如成型过程中因气泡而在注塑件表面形成的裂隙，或者在加工转移时在表面造成的划痕，等等。

而注塑件由于生产工艺的原因，加工成型后的表面会存在较多复杂纹理，这些大量、复杂的纹理与需识别的注塑件表面缺陷在灰度值方面较为相似，极大影响了对注塑件表面缺陷识别的准确度。

发明内容

为解决现有技术无法高效、准确识别注塑件表面缺陷的问题，本发明提供了一种注塑件表面缺陷识别方法，所采用的技术方案具体如下：

一种注塑件表面缺陷识别方法，包括以下步骤：

识别注塑件表面，得到注塑件表面图像；

对注塑件表面图像进行超像素分割的数据处理，根据注塑件表面图像大小以及所要分割得到的超像素个数，确定各个超像素块中种子点的分配步长，以所述分配步长均匀地分配所有种子点；

计算当前像素点与种子点之间的特征相似度，得到当前像素点的单点相似评价值；计算当前像素点的邻域内各个像素点与种子点之间的特征相似度并求均值，得到当前像素点的空间相似评价值，以当前像素点的单点相似评价值和空间相似评价值得到当前像素点与种子点之间的相似度；

所述特征相似度通过计算当前像素点和种子点之间的颜色差异、当前像素点和种子点之间的空间位置差异以及当前像素点和种子点之间的纹理主方向差异得到；

计算当前像素点与所有种子点之间的相似度，确定与当前像素点的相似度最大的种子点，将当前像素点划分到与其相似度最大的种子点所对应的超像素块中，对注塑件表面图像中所有像素点进行划分，完成对注塑件表面图像的超像素分割；

计算任意两个超像素块之间的空间位置距离以及纹理方向距离，以所述空间位置距离和纹理方向距离确定任意两个超像素块之间的距离值；

根据所述任意两个超像素块之间的距离值，对所有超像素块进行聚类，将注塑件表面图像分割为缺陷区域以及背景区域，完成注塑件表面缺陷识别。

本发明的有益效果为：