[发明专利]一种注塑件表面缺陷识别方法

权利要求书

1.一种注塑件表面缺陷识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

识别注塑件表面，得到注塑件表面图像；

对注塑件表面图像进行超像素分割的数据处理，根据注塑件表面图像大小以及所要分割得到的超像素个数，确定各个超像素块中种子点的分配步长，以所述分配步长均匀地分配所有种子点；

计算当前像素点与种子点之间的特征相似度，得到当前像素点的单点相似评价值；计算当前像素点的邻域内各个像素点与种子点之间的特征相似度并求均值，得到当前像素点的空间相似评价值，以当前像素点的单点相似评价值和空间相似评价值得到当前像素点与种子点之间的相似度；

所述特征相似度通过计算当前像素点和种子点之间的颜色差异、当前像素点和种子点之间的空间位置差异以及当前像素点和种子点之间的纹理主方向差异得到；

计算当前像素点与所有种子点之间的相似度，确定与当前像素点的相似度最大的种子点，将当前像素点划分到与其相似度最大的种子点所对应的超像素块中，对注塑件表面图像中所有像素点进行划分，完成对注塑件表面图像的超像素分割；

计算任意两个超像素块之间的空间位置距离以及纹理方向距离，以所述空间位置距离和纹理方向距离确定任意两个超像素块之间的距离值；

根据所述任意两个超像素块之间的距离值，对所有超像素块进行聚类，将注塑件表面图像分割为缺陷区域以及背景区域，完成注塑件表面缺陷识别。

2.根据权利要求1所述的注塑件表面缺陷识别方法，其特征在于，以当前像素点的单点相似评价值和空间相似评价值得到当前像素点与种子点之间的相似度的具体方法为：

μ＝μ_d+αμ_space

其中μ为当前像素点与种子点之间的相似度，μ_d为当前像素点的单点相似评价值，μ_space为当前像素点的空间相似评价值，α为空间调节参数，用以调节图像的空间信息对整体相似度的影响。

3.根据权利要求2所述的注塑件表面缺陷识别方法，其特征在于，空间调节参数的计算公式为：

其中，α为空间调节参数，为注塑件的平均纹理熵。

4.根据权利要求3所述的注塑件表面缺陷识别方法，其特征在于，所述注塑件的平均纹理熵的确定过程为：

采用灰度共生矩阵对不存在缺陷的注塑件表面图像进行纹理提取，分别采用0°，45°，90°和135°的模板得到四个灰度共生矩阵，并对这四个灰度共生矩阵求取均值得到每个像素对应的灰度共生矩阵G；

然后对每个像素对应的灰度共生矩阵求取熵值，

其中G(i，j)代表图像上第i行和第j列像素对应的灰度共生矩阵，ENT(i,j)表示熵图像上第i行和第j列像素对应的熵值，然后对熵图像上的每一个元素对应的熵值求和并求取均值作为注塑件的平均纹理熵

5.根据权利要求1-4任意一项所述的注塑件表面缺陷识别方法，其特征在于，所述特征相似度的计算方法为：

γ＝w₁γ_c+w₂γ_p+w₃γ_d

其中，γ为当前像素点与种子点之间的特征相似度，γ_c为当前像素点与种子点之间的颜色差异度，γ_p为当前像素点与种子点之间的空间位置差异度，γ_d为当前像素点与种子点之间的纹理主方向差异度，w₁，w₂和w₃分别代表颜色差异度、空间位置差异度和纹理主方向差异度在特征相似度γ中的权重，w₁＝0.1，w₂＝0.6，w₃＝0.3。