[发明专利]高精度大通流微阻抗电阻的测试方法及无感电阻模块

说明书

本发明涉及无感电阻性能测试技术领域，解决了目前无法针对负载在真实试验之前进行模拟测试相关性能的技术问题，尤其涉及一种高精度大通流微阻抗电阻的测试方法，包括以下过程：S1、选取待测试电阻模块中的基础负载电阻；S2、实测基础负载电阻的电阻值以及电感值；S3、对基础负载电阻进行通流试验；S4、按仿真模型搭建试验平台，将基础负载电阻接入试验平台进行通流实际测试；S5、对基础负载电阻进行温度变化测试；若基础负载电阻的整体温度上升可控，则基础负载电阻的整体结构稳定可靠。本发明达到了为负载在真实试验之前进行模拟测试的目的，同时为真实试验提供可靠的模拟数据依据。

技术领域

本发明涉及无感电阻性能测试技术领域，尤其涉及一种高精度大通流微阻抗电阻的测试方法及无感电阻模块。

背景技术

脉冲功率领域脉冲发射装置在发射瞬间脉冲电流可达到数百kA甚至MA 级，为了降低设备功率，减少发热损耗，负载电阻阻值多为mΩ级，且要求电阻的寄生电感尽可能小。由于真实负载研制不易，使用成本高，在真实试验前，需用模拟负载验证测试各相关的技术指标，为真实试验奠定良好的基础，保证真实试验有序可靠开展。

而目前对于负载在真实试验之前，缺少相应的负载测试手段，导致真实试验之前无法获取负载性能的各项数据，同时无法为真实试验提供可靠的测试数据依据，因此在负载没有经过模拟测试便进行真实试验容易引发各种不良状况，同时无法及时在真实试验中及时解决可能出现的技术问题的措施，由此降低了真实试验的成功率，并且提高试验成本。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供了一种高精度大通流微阻抗电阻的测试方法及无感电阻模块，解决了目前无法针对负载在真实试验之前进行模拟测试相关性能的技术问题，达到了为负载在真实试验之前进行模拟测试的目的，同时为真实试验提供可靠的模拟数据依据，从而提高真实试验的成功率以及降低试验成本。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种技术方案：一种高精度大通流微阻抗电阻的测试方法，包括以下过程：

S1、选取待测试电阻模块中的基础负载电阻；

S2、实测基础负载电阻的电阻值以及电感值；

S3、对基础负载电阻进行通流试验；

S4、按仿真模型搭建试验平台，将基础负载电阻接入试验平台进行通流实际测试；

S5、对基础负载电阻进行温度变化测试；

若基础负载电阻的整体温度上升可控，则基础负载电阻的整体结构稳定可靠；

若基础负载电阻的整体温度上升不可控，则基础负载电阻的整体结构存在不稳定性；

S6、得出对基础负载电阻的测试结果。

进一步地，在步骤S3中，搭建通流试验仿真模型包括以下过程：

S31、搭建通流试验仿真模型；

S32、通过仿真模型模拟基础负载电阻的真实放电工况。

进一步地，在步骤S4中，将基础负载电阻接入试验平台进行通流实际测试包括以下过程：

S41、控制充电电压缓慢上升，然后进行触发放电；

S42、得出触发放电工况并与真实放电工况比对；

若比对结果一致，则基础负载电阻结构稳定，结构无形变以及损坏现象，整体结构稳定可靠；

若比对结果不一致，则基础负载电阻存在不稳定性。